Gebraucht HORIBA / JOBIN YVON UVISEL II #293594976 zu verkaufen

ID: 293594976
Weinlese: 2013
Spectroscopic ellipsometer Layer / Stack thickness: <1 nm - 20 µm Optical properties (8) Spot sizes: 34 x 34, 50 x 50, 100 x 100, 200 x 200, 500 x 500, 750 x 750, 12 x 34, 585 x 1710 μm² Spectral range for model VIS: 190 to 1000nm (1.2 - 6.5eV) Spectral resolution: <0.3 nm XYZ Mapping stage, 8" Auto-focus and auto-tilt Auto calibration and auto validation with integrated references Xe pressurized lamp Lifetime: 1500 Hours Dell dual-core-processor, 3.2 GHz 4 GB RAM, 250 GB harddrive 21" Flat-Screen-Monitor Keyboard Mouse Operating system: Windows 7 Pro Power supply: 220 V, 50 Hz, Single phase, 400 W 2013 vintage.
HORIBA/JOBIN YVON UVISEL II Ellipsometer ist ein hochauflösendes in-situ optisches Instrument zur Messung der optischen und Oberflächeneigenschaften von Substraten mit hoher Genauigkeit. Das Instrument verwendet eine Kombination aus polarisationsmodulierter spektroskopischer Ellipsometrie (PMSE) und integrierter Reflexionsspektroskopie (IRS), um die Veränderung der Polarisation von von der Oberfläche eines Materials gestreutem Licht in Abhängigkeit von einfallendem Winkel und Wellenlänge zu messen. Die aus dem einfallenden Licht gewonnenen Informationen werden dann zur Erzeugung von Oberflächencharakterisierungsdaten wie Filmdicke, Brechungsindex, optische Konstanten und Oberflächenrauhigkeit verwendet. HORIBA/YVON HORIBA UVISEL II verwendet zwei akustooptische abstimmbare Filter und eine Weißlichtquelle zur schnellen Erfassung von Daten. Diese Kombination von Lichtquelle und Filter ermöglicht variable Wellenlängen- und Einfallswinkelmessungen, die mit Spektroskopen oder anderen weniger fortgeschrittenen Methoden nicht verfügbar sind. Beispielsweise ermöglicht ein variabler Wellenlängenbereich von Wellenlängen zwischen 200 und 1000 nm eine hochauflösende Oberflächencharakterisierung. Der variable Einfallswinkelbereich von 1 ° - 85 ° ermöglicht genaue Modellierungswinkel im Off-Normal-Winkel. Das Gerät ist mit einer computergesteuerten motorisierten Drehstufe ausgestattet, um die Genauigkeit zu gewährleisten. JOBIN YVON/YVON JOBIN YVON UVISEL II enthält auch eine Temperatur- und Vakuumkammer, um die Möglichkeiten des Systems bei der Messung temperaturempfindlicher Materialien und Proben mit einem integrierten turbogepumpten Vakuum für In-situ-Messungen zu erweitern. Diese Fähigkeit ermöglicht es, Filme zu messen, die sonst aufgrund thermischer Instabilität nicht zugänglich wären. HORIBA/JOBIN YVON/YVON UVISEL II verwendet eine Mehrzwecksoftware, die für die Analyse einer Vielzahl von Parametern und Materialien entwickelt wurde. Dieses System ist in der Lage, motorisierte Stufen zu steuern und Daten schnell zu analysieren. Darüber hinaus ist es benutzerfreundlich und ermöglicht eine einfache Datenerfassung und -manipulation. Die Software enthält eine Bibliothek mit Referenzmaterialien und bietet benutzerdefinierte Toleranzgrenzen, um Unterschiede zwischen gemessenen Materialeigenschaften und erwarteten Werten zu erkennen. HORIBA/YVON HORIBA/JOBIN YVON UVISEL II ist ein ideales Instrument für den Einsatz in einer Vielzahl von Branchen, darunter Halbleiter, medizinisches Gerät, Photovoltaik und Glasherstellung. Die Vielseitigkeit und hohe Genauigkeit des Systems machen es sowohl für Forschung als auch für Produktionsanwendungen geeignet. Die umfangreichen Funktionen des Instruments, der geringe Platzbedarf und die intuitive Softwareschnittstelle machen es zur perfekten Wahl für die präzise optische und Oberflächencharakterisierung.
Es liegen noch keine Bewertungen vor