Gebraucht RUDOLPH FE IV #293637499 zu verkaufen

Hersteller
RUDOLPH
Modell
FE IV
ID: 293637499
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1995
Thickness measurement system, 8" Process capability: 11µm, 13µm, 15µm, 18µm, 25µm, 35µm Load lock PC Board Computer Main body Power supply: 1500W, 100 VAC, 50 / 60 Hz 1995 vintage.
RUDOLPH FE IV ist ein Ellipsometer, mit dem die physikalischen und chemischen Eigenschaften dünner Filme gemessen werden können. Es ist eines der fortschrittlichsten und zuverlässigsten Ellipsometer, die heute auf dem Markt erhältlich sind. RUDOLPH FE-IV hat zwei Hauptkomponenten: eine Lichtquelle und ein Interferometer. Die Lichtquelle ist ein Laser, der Licht bei bestimmten Wellenlängen emittiert. Das Laserlicht wird dann durch zwei Spiegelsätze aufgeteilt, bevor es auf die Oberfläche der zu untersuchenden Probe gerichtet wird. Wenn das Licht mit der Oberfläche zusammenwirkt, wird es zurückreflektiert und sein Polarisationszustand aufgezeichnet. Die zweite Komponente von FE IV ist das Interferometer. Dies misst die Veränderungen im Polarisationszustand des Lichts. FE-IV kommt mit einer Reihe von Interferometertypen, die alle entworfen sind, um die Änderungen in der Polarisation von Licht in verschiedenen Winkeln und verschiedenen Wellenlängen zu messen. Diese Messungen können dann zur Berechnung der optischen Eigenschaften des zu untersuchenden Dünnfilms sowie seiner Dicke und physikalischen Zusammensetzung verwendet werden. RUDOLPH FE IV hat eine Reihe von Merkmalen, die es für Wissenschaftler besonders attraktiv machen. Es hat eine hohe Auflösung, die für genaue Messungen erforderlich ist. Es ist auch in der Lage, Proben in einem breiten Bereich von Winkeln und Wellenlängen in einem einzigen Scan zu messen. Darüber hinaus hat sie die Fähigkeit, sowohl den Brechungsindex als auch die optischen Konstanten gleichzeitig zu messen. Diese Eigenschaften machen RUDOLPH FE-IV zu einem idealen Werkzeug für eine Reihe von Forschungsprojekten und Anwendungen. Insgesamt ist FE IV ein innovatives und zuverlässiges Ellipsometer, mit dem die physikalischen und chemischen Eigenschaften dünner Filme gemessen werden können. Seine Kombination aus hoher Auflösung, Geschwindigkeit und Genauigkeit macht es zu einer großen Wahl für wissenschaftliche Forschung in Bereichen wie Physik, Chemie, Materialwissenschaft und Nanotechnologie. Darüber hinaus können die Variabilität und die Reichweite der Messmodi für viele verschiedene Projekte verwendet werden.
Es liegen noch keine Bewertungen vor