Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 720 #9391938 zu verkaufen

AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 720
ID: 9391938
Wafer inspection system.
AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 720 ist eine leistungsstarke Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die für die Halbleiterfertigung und die Entwicklung mikroelektronischer Bauteile optimiert ist. Dieses System wurde entwickelt, um die Qualitätssicherung komplexer Schaltkreise sowie eine breite Palette von Grafiken zu gewährleisten. Durch fortschrittliche Bildgebungs- und Analysetechnologien wie Laserinterferometrie und chromatische Aberration bietet diese Einheit eine überlegene Fehlererkennungsleistung und höhere Durchsatzraten als andere Systeme auf dem Markt. AMAT WF 720 ist mit einer hochauflösenden Kamera und einem Beleuchter ausgestattet, der eine optische Inspektion von Masken- und Waferfunktionen mit hoher Genauigkeit ermöglicht. Diese Maschine enthält auch ein Laser-Interferometer zur verbesserten Oberflächentopologie-Detektion sowie eine integrierte chromatische Aberrationstechnologie zur Erkennung subtiler Unterschiede in Merkmalsformen. Darüber hinaus bietet dieses Tool eine 3D-Oberflächenrekonstruktion an Bord, um Bilder von höchster Qualität zu gewährleisten. ORBOT WF 720 wird über eine grafische Benutzeroberfläche (GUI) gesteuert und bietet Benutzern eine einfache Verwaltung und Navigation ihrer Inspektionsprozesse. Das Asset umfasst auch eine Reihe von Analyse- und Feedback-Tools sowie eine webbasierte Schnittstelle für Fernzugriff und Überwachung. Diese Überwachung ermöglicht die Datenerfassung in Echtzeit und erleichtert die Verfolgung der gesamten Produktqualität. ANGEWANDTE MATERIALIEN WF 720 ist die ideale Inspektionslösung für komplexe Schaltungen, da es ein integriertes Vision-Modell, eine breite Palette von Sensorfunktionen und Hochgeschwindigkeits-Defektprüfung bietet. Es ist in der Lage, bis zu 500 Wafer pro Stunde mit einer Auflösung von 50 Nanometern zu scannen, was eine schnellere Fehlererkennung und verbesserte Genauigkeit ermöglicht. Darüber hinaus ist dieses Gerät vollständig in die Software SEMVision Inspection Control Manager (SICM) integriert, die eine einfache Überwachung und Nachverfolgung des Halbleiterproduktionsprozesses ermöglicht. WF 720 ist eine ideale Lösung für Halbleiterhersteller und mikroelektronische Bauteilentwickler, die hohe Qualitätsstandards einhalten und gleichzeitig enge Produktionsfristen einhalten müssen. Mit seinen ausgeklügelten Bildgebungs- und Analysefunktionen kombiniert dieses System Geschwindigkeit, Genauigkeit und eine intuitive Benutzeroberfläche, mit der Benutzer potenzielle Fehler schnell erkennen und beheben können.
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