Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF-736 XS DUO #293617607 zu verkaufen

ID: 293617607
Weinlese: 2001
Patterned wafer inspection system 2001 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF-736 XS DUO ist eine Maske und Wafer Inspektion Ausrüstung entwickelt, um überlegene Leistung und intuitive Bedienung zu bieten. Das System bietet eine Reihe fortschrittlicher Funktionen, darunter automatisierte Waferausrichtung, hochauflösende Bildaufnahme und -analyse, automatisierte Fehlererkennung und -klassifizierung sowie die Möglichkeit, den gesamten Wafer in einem einzigen Sichtfeld zu überprüfen. AMAT WF-736 XS DUO ist mit einem neuen Zweistrahl-Bildaufnahmemodul ausgestattet, das sowohl optische als auch Elektronenstrahl-Bildaufnahmemodi verwendet, um eine optimierte Datenerfassung für verschiedene Substrattypen und -merkmale zu ermöglichen. Das Gerät ist mit einem hochauflösenden digitalen Vollfeld-Zeilenscanner zur Erzeugung von Hellfeld- und Dunkelfeldbildern bis 120Mpixel integriert. Darüber hinaus bietet die Maschine verschiedene automatisierte Funktionen wie intelligente Fehlererkennung durch ihr 3D-Profil, genaue Merkmalserkennung und automatisierte Fehlerklassifizierung. Das Tool wird von der neuesten Bildverarbeitungs- und Bildverarbeitungstechnologie angetrieben. Es beinhaltet eine integrierte Bildverarbeitung und Analyse, die erweiterte Bildfilteralgorithmen und statistische Analysen zur Klassifizierung, Messung und Kategorisierung von Fehlern bietet. Das Modell ist auch mit einem Digital Bright Field Imaging Equipment ausgestattet, das kontrastreiche Bilder liefert, mit denen kleine Defekte an komplexen Strukturen und Layouts erkannt werden können. ORBOT WF-736 XS DUO verfügt auch über eine erweiterte Steuerungssoftware, die eine verbesserte und intuitive Bedienung bietet. Dies steuert die Anwendung des Werkzeugs auf die Wafer und ermöglicht eine einfache Anpassung der bildgebenden Parameter an die Bedürfnisse des Benutzers. Darüber hinaus ist das System mit einer erweiterten Merkmalserkennungseinheit ausgestattet, die die Parameter von Düsenmustern auf der Waferoberfläche automatisch erfasst und misst. WF-736 XS DUO bietet eine effiziente und zuverlässige Lösung für die Masken- und Waferinspektion in der anspruchsvollen Halbleiterindustrie. Mit seiner Kombination aus leistungsfähiger Bildgebungstechnik und intuitiver Bedienung ist die Maschine in der Lage, eine Vielzahl von kritischen Defekten zu erkennen, von 0.1um - 2um. Es reduziert die Zeit und Kosten für die manuelle Inspektion erheblich und ermöglicht einen effizienten Prozessablauf in kritischen Produktionsumgebungen.
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