Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200SA #9274669 zu verkaufen

Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 200SA
ID: 9274669
Prober, 8" COGNEX 8200 Hot nickel chuck MHF-300L Hinge manipulator 2004 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200SA ist ein Prober zur Analyse und Messung der elektrischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen. Es ist mit einer Schicht-Schicht-Messeinrichtung ausgestattet, die eine Vielzahl verschiedener Sonden mit einem hochgenauen Messsystem verwendet. Dieser Prober ist in der Lage, Messungen an verschiedenen Proben durchzuführen, die von Halbleiterbauelementen, komplexen Baugruppen, Werkzeugen, Beulen und Verpackungen reichen. Der Prober besteht aus mehreren verschiedenen Teilen, die zusammenarbeiten, um das gewünschte Ergebnis zu erzielen. Herzstück des Geräts ist TSK UF200SA prober, der zwei Positionierantriebe umfasst, die eine genaue x- und y-Bewegung des Sondenkopfes über die Probe ermöglichen. Darüber hinaus umfasst der Prober eine Hochfrequenz-Messmaschine, die Wechsel- und Gleichstrom, Spannungs- und Widerstandsmessungen verwendet, um kleine Abweichungen in den elektrischen Eigenschaften für die Probe zu erkennen. ACCRETECH UF 200 SA prober enthält auch eine umfangreiche Bibliothek mit Sonden- und Tippauswahlen, die eine Reihe von Sondierungsoptionen ermöglichen. Ob einzelne Schichten, mehrere Schichten, Unebenheiten oder Pakete, der Prober enthält eine große Auswahl an Sonden und Tipps, um eine erfolgreiche Analyse zu gewährleisten. Die Sonde hält und kann die Sonden ohne manuelle Manipulation von der Probe abheben. Diese Mehrfachspitzen-Ladetechnik ermöglicht es, ein Array mit bis zu 200 Gerätemustern zu messen, ohne die Zeit und den Aufwand zur Neupositionierung der Teststifte zu erhöhen. Der Prober verfügt auch über ein integriertes Vision-Tool, das eine reibungslose und genaue Ausrichtung von Testsonden auf passende Standorte ermöglicht. Das Asset verwendet eine CCD-Kamera, um die Probe zu identifizieren, indem es jedes Gerätepad abbildet und das Bild mit der Bibliothek des Probers übereinstimmt. Die CAD-Muster können in der Software des Probers problemlos geladen und modifiziert werden. Darüber hinaus kann das integrierte Abbildungsmodell auch großflächig Fehler untersuchen und erkennen, indem die CCD-Bilder mit einem Referenzmuster verglichen werden. Schließlich umfasst UF 200SA auch eine flexible Softwareplattform, um Testdaten zu erstellen, Daten zu analysieren und zu speichern und Ergebnisse schnell und effizient auszuwerten. Die Software ist mit verschiedenen Softwarepaketen kompatibel, mit denen Testergebnisse analysiert, modelliert und gemeldet werden können. Darüber hinaus kann der Benutzer eine Verbindung zu einem externen Computer herstellen, der eine weitere Analyse der Daten ermöglicht. UF200SA ist ein hochgenauer und vielseitiger Prober, der elektrische Eigenschaften von Halbleiterbauelementen messen soll. Die große Auswahl an Sonden, Tipps und Sichtgeräten, gepaart mit der leistungsstarken Softwareplattform, sorgen für eine erfolgreiche Analyse und wiederholbare, genaue Testdaten jedes Mal.
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