Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200SA #9384063 zu verkaufen

Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 200SA
ID: 9384063
Wafergröße: 6"
Automatic wafer prober, 6".
ACCRETECH/TSK UF 200SA prober ist eine All-in-One-Hochleistungssonde, die für eine Vielzahl von Anwendungen in der Halbleiterindustrie entwickelt wurde. Das Gerät besteht aus einer Basisstation, einer zweiachsigen Rückkopplungssteuerung und zwei präzisen Mikromanipulatoren. Die Basisstation verfügt über drei unabhängige Steuerachsen, die eine präzise Sondierung von großen und kleinen Substraten ermöglichen. Das zweiachsige Rückkopplungssteuerungssystem (X-, Y- und Z-Achsen) nutzt fortschrittliche simultane Steuerungstechnik, die Messfehler durch thermische Effekte minimiert und eine zuverlässige hochpräzise Positionierung ermöglicht. Diese Einheit ist in der Lage, Sondierungs-, Kartierungs- und Feinwinkelmessungen mit Präzision und Konsistenz durchzuführen. TSK UF200SA umfasst auch eine Vielzahl von anpassbaren Optionen, wie Sondenspitzen, Zubehör, Optik und pneumatische Geräte für eine breite Palette von Sondierungsoperationen. Die Maschine kann automatisiert werden, um große Datensätze wie Linienbreitendaten zu sammeln, und ermöglicht es Benutzern, große Oberflächen schnell zu scannen. Der Prober verfügt über eine benutzerfreundliche Touchscreen-Oberfläche, mit der Benutzer Einstellungen schnell konfigurieren, Bilder erfassen und Daten speichern können. ACCRETECH UF 200 SA verfügt über einen integrierten Bildsensor, der Messdaten für eine schnelle visuelle Rückkopplung in Bilder integriert. Diese Funktion ermöglicht es Benutzern auch, mehrere Proben für eine effiziente Fehlerbehebung und Diagnose schnell zu analysieren und zu vergleichen. Der Prober verfügt auch über erweiterte Kalibrierungsfunktionen, die genaue und zuverlässige Messungen ermöglichen. ACCRETECH UF200SA ist für die Arbeit mit anspruchsvollen Substraten wie kleinen Paketen und Komponenten optimiert, mit Optionen für Wafer-Prober, Dual-Head-Probing und Hochdruck-Prober-Systeme. ACCRETECH/TSK UF200SA prober ist eine All-in-One-Hochleistungssondenstation, die für eine breite Palette von Halbleiteranwendungen entwickelt wurde. Das Tool ist in der Lage, Sondierungs-, Kartierungs- und Feinabstandsmessungen mit Präzision und Konsistenz durchzuführen und enthält anpassbare Optionen wie Sondenspitzen und Zubehör sowie eine intuitive Touchscreen-Oberfläche und einen Bildaufnahmesensor, um genaue und zuverlässige Messungen zu gewährleisten.
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