Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9237368 zu verkaufen

ID: 9237368
Weinlese: 2006
Prober 2006 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn + ist ein universeller Prober, der für alle Sondierungsanforderungen bei Halbleiterwafer-Sondierungsaufgaben sehr vielseitig einsetzbar ist. Es verfügt über eine X-Y-Bühne mit einem 8-Zoll-Fahrbereich und einem integrierten optischen Mikroskop zur optischen Ausrichtung. Es verfügt über sechs unabhängige Wafer-Sondierungssysteme mit bis zu zwölf 200-poligen mikromanipulierten Sonden für parallele Wafer-Sondierung und -Ausrichtung sowie 3D-Ausrichtungsfunktionen. Der Prober weist außerdem eine präzise Druckregeleinrichtung auf, die den Anpressdruck zwischen den Sonden und dem Wafer konstant hält, so dass keine unerwünschte Beschädigung des Wafers auftritt. Der P-12XLn + -Prober verfügt zudem über einen Echtzeit-Algorithmus für High-Speed-Wafer-Sondierungszeiten und ein intuitives, benutzerfreundliches Menüsystem. Es verfügt über eine LED-Beleuchtung und eine leicht einstellbare Einheit zur Steuerung der Helligkeit, die eine präzise Verfolgung über kleine Ausrichtungsmarken ermöglicht. Darüber hinaus ist der P-12XLn + -Prober elektrisch stabil mit niedrigen EMI (elektromagnetische Störungen) und RFI (Hochfrequenz-Störungen) -Pegeln, was einen stabilen integrierten Schaltungsbetrieb ermöglicht. Es verfügt über eine XY-visometrische Messmaschine für große und kleine IC (Integrated Circuit) -Funktionen, die eine hohe Genauigkeit der Messung gewährleistet. Darüber hinaus ist der Prober sowohl mit TÜV-Sicherheit als auch mit PCI SLOTS-Konformität authentifiziert. Der P-12XLn + -Prober ist in der Lage, eine Vielzahl von Methoden für den sicheren Datenaustausch zu unterstützen, wie SSH, RSA und NTLM, so dass die Kommunikation zwischen dem Server und dem Prober sicher übertragen werden kann. Es unterstützt auch TEL Tool Network-Funktion zur Übertragung von Echtzeitüberwachung und statistischen Datenergebnissen für den Prober vom Server zum Prober. Insgesamt ist TEL P12XLN + ein anspruchsvoller und zuverlässiger Prober für detaillierte Wafer-Sondierungsaufgaben. Es ist in der Lage, präzise Messungen mit seinen leistungsstarken und flexiblen Funktionen durchzuführen, so dass Halbleiterhersteller zuverlässige und genaue Überwachung ihrer Wafer-Level-Geräte durchführen können.
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