Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293604330 zu verkaufen

Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-8
ID: 293604330
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1995
Prober, 8" CPU Type: VIP3A Hot gold chuck Vacuum: ≤-50 kPa Main air / Vac hose size: Ø6 Bernoulli and pad sub chuck Chuck air blower Solenoid block Control board OCR COGNEX Insight 1700 Air pressure: 0.45 MPa - 0.7 MPa SCSIHSD: 70-80% Increased speed Memory: 8G / 16G SD Card SCSI Interface Power: 5 VDC OS: Gzz00-R014.08QH Does not include flat top loader Power supply: 200-240 V, 50/60 Hz, Single phase, 7.5 A 1995 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist ein von TEL Company entwickelter Prober, der bei der Analyse von Halbleiterstrukturen eingesetzt wird. Das Gerät wurde entwickelt, um eine optimale Messung der elektrischen Eigenschaften in einer Vielzahl von Anwendungen wie Geräteauswertung, Prozessüberwachung und -entwicklung, Fehleranalyse und Ertragssteigerung zu ermöglichen. TEL P8 prober verfügt über eine vollautomatische Ausrüstung zur genauen Datenerfassung. Es bietet einen breiten Scanbereich, eine präzise mechanische Positionierung und einen erweiterten Sondenbereich bis zu einigen hundert Mikrometern. Der Prober verfügt über ein fortschrittliches automatisches Ausrichtungssystem, das die Sondennadel präzise auf den Kontaktpunkt bringt und einen präzisen und wiederholbaren elektrischen Kontakt ermöglicht und den Bedarf an manueller Sondenausrichtung reduziert. TOKYO ELECTRON P 8 verfügt zudem über eine integrierte Laserausrichtungskameraeinheit, die die Effizienz des Messvorgangs weiter erhöht. Diese integrierte Maschine ermöglicht eine präzise Ausrichtung der Sondennadel des Geräts mit der Geräteunterprüfung sowie die Erfassung realer visueller Bilder der Sonde/Probenoberfläche. Der Prober verfügt außerdem über ein integriertes Datenerfassungswerkzeug, das mit den Messleitungen des Geräts verbunden ist und elektrische Signale erfassen, speichern und analysieren kann. Diese Anlage kann verschiedene Tests wie DC IV-Kurven, HF-Messungen und HF-on-Wafer-Charakterisierungen durchführen. Zusätzlich hat der Prober ein Vakuumfutter, das sowohl eine harte als auch eine weiche Oberfläche für erhöhte Genauigkeit beibehält. Das Vakuumfutter verfügt zudem über ein Hubmodell und eine Kippfunktion, die die Genauigkeit und Reproduzierbarkeit weiter erhöht. Darüber hinaus verfügt TEL/TOKYO ELECTRON P8 prober auch über eine fortschrittliche Echtzeit-Überwachungsausrüstung, die ein umfassendes Feedback zur Testausführung liefern kann. Dieses System ermöglicht erfahrenen Anwendern die „on-the-fly“ -Überwachung, die höhere Testgenauigkeit und Wiederholbarkeit ermöglicht. Abschließend ist TEL P-8 prober eines der fortschrittlichsten Geräte für effiziente Halbleitertests und -analysen. Die Reihe fortschrittlicher Automatisierungstechnologien und -funktionen bietet eine breite Palette von Messfunktionen, die genutzt werden können, um die Genauigkeit und Effizienz in jeder Testanwendung zu maximieren.
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