Gebraucht HITACHI S-2700 #9200117 zu verkaufen

HITACHI S-2700 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für detaillierte Oberflächenbeobachtungen, Analyse und Bildgebung verwendet wird. Es ist ein fortschrittliches Instrument, das eine hochauflösende Bildgebung und Analyse von Proben auf einem sehr feinen Maßstab ermöglicht. S-2700 bietet eine überlegene Bildauflösung bis zu einem Niveau von 0,3 Nanometern. Es ist mit einer Ultrahochspannungs-Elektronenkanone mit Beschleunigungsspannungen bis 200kV für einen größeren Bildkontrast und detaillierte Bildgebung ausgestattet. HITACHI S-2700 bietet eine breite Palette fortschrittlicher Funktionen wie variable Kammergeometrie, sekundäre Elektronenbildgebung, rückgestreute Elektronenbildgebung und Analysefunktionen wie digitale Bildanalyse (DIA) und Linienabtastung für quantitative Analysen. Darüber hinaus ist es auch mit einem voll ausgestatteten Vakuumsystem für eine effiziente und genaue Probenvorbereitung ausgestattet. Die Probenkammer von S-2700 erleichtert ihren reibungslosen Betrieb. Durch den Einsatz der lufttragenden Abtaststufe wird die Probenmanipulation erleichtert und präzise. Die Probe kann in beliebiger Richtung mit der X- und Y-Achse der Probenkammer überwacht werden. Zusätzlich ermöglicht die Z-Achse die Fokussierung entsprechend dem gewünschten Bild. Dies hilft bei der Erzielung der maximalen Bildauflösung, die in der Regel bei längerer Bilddauer erreicht wird. Das System nutzt die Möglichkeiten der energiedispersiven Spektroskopie (EDS) und der elektronenrückgestreuten Beugung (EBSD), um eine detailliertere Analyse der Probenstruktur zu erhalten. Dies ermöglicht ein besseres Verständnis der Zusammensetzung der Probe und der kristallinen Struktur. Außerdem können HITACHI- S-2700 mit ihren hochempfindlichen Elektronenstrahldetektoren sogar schwache Elementarsignale erkennen. Darüber hinaus verfügt S-2700 über automatisierte Bildnaht- und Nachbearbeitungswerkzeuge für eine genauere Analyse und Interpretation. Die Probenkammer ist auch kompatibel mit verschiedenen Zubehörteilen für die Rasterelektronenmikroskopie wie Kryotransferstufen, Detektoren und Filmhalter ausgebildet. Abschließend ist HITACHI S-2700 ein leistungsfähiges Werkzeug zur detaillierten Analyse und Abbildung von Probenoberflächen. Seine erweiterten Detektionsmöglichkeiten, variable Kammergeometrie, Nachbildverarbeitungswerkzeuge und automatisierte Bildnähte machen es zu einem bevorzugten SEM-Instrument für detaillierte Oberflächenanalysen. S-2700 liefert wiederholbare Ergebnisse mit seiner genauen Probenmanipulation und Auflösung bis auf 0,3 Nanometer.