Gebraucht JEOL 35 #126386 zu verkaufen

JEOL 35
Hersteller
JEOL
Modell
35
ID: 126386
Scanning electron microscope, TEM detector, parts system.
JEOL 35 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die hochpräzise Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben entwickelt wurde. Es verfügt über ein breites Sichtfeld, Tiefenschärfe und Auflösungsleistung, mit Bildern, die bis zu 2000x der ursprünglichen Größe vergrößert werden können. Seine robuste Konstruktion macht es zuverlässig und ideal für die Abbildung von Proben in einer Vielzahl von Materialien wie Metalle, Keramik, Polymere und Organik. 35 ist mit einem Niedrigvakuum-Modus ausgestattet, der schnelle Probenbild- und Analysefunktionen bietet. Es ist mit einem Feldemissionskanonensystem ausgestattet, das eine präzise Probengrößenkontrolle mit einem hohen Primärstrahlstrom von 0,5 - 5 Nano-Ampere ermöglicht. Dies ermöglicht die Abbildung bei verschiedenen Vergrößerungen für maximales Sichtfeld und Auflösung. Das SEM ist mit einer Vielzahl von Detektorsystemen ausgestattet, einschließlich Sekundärelektronendetektoren und zurück gestreuten Elektronendetektoren für erhöhten Bildkontrast und verbesserte Fokustiefe. JEOL 35 arbeitet mit einem automatisierten Bühnensystem, das eine präzise Probenpositionierung und präzise Navigation zu verschiedenen Bereichen der Probe ermöglicht. Die Bühne bietet einen maximalen Bewegungsbereich von 280mm x 280mm. Es verfügt auch über eine große Probenkammer mit einer maximalen Größe von 800mm x 800mm, so dass große Proben abgebildet werden können. Das SEM wird von einem digitalen Hochgeschwindigkeits-Abbildungssystem angetrieben, das Daten aus den Detektoren und der Elektronenoptik kombiniert, um digitale Bilder der Probe zur weiteren Analyse zu erstellen. 35 enthält auch innovative Software zur Bildverbesserung, Manipulation und Analyse. Dies sind integrierte Funktionen, die Funktionen wie Bildsegmentierung, Spektralanalyse und Linienprofilintegration bieten. Mit dieser Software können Anwender präzise Messungen vornehmen, Daten analysieren und 3D-Modelle erstellen. JEOL 35 ermöglicht es Benutzern, präzise Messungen vorzunehmen, komplexe Daten zu analysieren und Bilder zu manipulieren, um die maximale Menge an Informationen aus einer Probe zu extrahieren. Sein vielseitiges Design, seine Robustheit und seine Leistungsfähigkeit machen es zum idealen bildgebenden Werkzeug für eine Vielzahl von Bereichen wie Materialwissenschaften, Mineralogie und Geologie.
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