Gebraucht ACCRETECH / TSK E-MF1000-100 #9399112 zu verkaufen

ACCRETECH / TSK E-MF1000-100
ID: 9399112
Wafer thickness measurement system.
ACCRETECH/TSK E-MF1000-100 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um Ausbeute, Durchsatz und Genauigkeit während des Halbleiterherstellungsprozesses zu maximieren. Es ist in der Lage, eine vollständige Reihe von Wafer-Prüf- und Messtechnikdiensten durchzuführen, einschließlich Wafer-Mapping, elektrischer Test und Messtechnik. TSK E-MF1000-100 verwendet eine fortschrittliche optische Struktur, die eine überlegene Bildauflösung, einen verbesserten Durchsatz und eine zuverlässige Leistung für eine präzise kritische Dimensionierung und Filmspannungsmessung bietet. Das effiziente Optikdesign ermöglicht eine schnelle und präzise Messung kritischer Linienbreiten, Kontaktschleifengrößen und Profiltiefen und ermöglicht eine präzise Wafer-Kartierung und Fehlererkennung. ACCRETECH E MF1000 100 kommt komplett mit fortschrittlichen elektrischen Testfunktionen, einschließlich Mehrkanalstromprüfung, präzise Spannungsmessung, Scan-Spannungsmessungen und multi-abgerufene Datenerfassungseinheiten. Dies ermöglicht eine effiziente und genaue Prüfung und Validierung von Geräten zur Analyse elektrischer Leckagen und Prozessintegrationen. E MF1000 100 ist in der Lage, eine breite Palette von messtechnischen und messtechnischen Aktivitäten zu unterstützen, einschließlich Spannungsmessung, Dickenmessung und -bindung, mikroresistente Prüfung und Drahthöhenmessung. Alle diese Parameter können mit einer Vielzahl von Messtechniken genau gemessen werden, einschließlich kontaktloser Sonden, Flugsonden und kapazitiver Sonden. E-MF1000-100 kommt auch mit einer voll integrierten und automatisierten Systemplattform, die es ermöglicht, zahlreiche Tests und Aufgaben gleichzeitig durchzuführen, die Markteinführungszeit für neue Produkte zu minimieren und die Erträge auf bereits bestehenden Produktionslinien zu verbessern. Dazu gehören automatisches Wafer-Handling, Robotererkennung und eine Reihe automatisierter Produktlade- und Testkomponenten. Schließlich kommt TSK E MF1000 100 auch mit einem fortschrittlichen Softwarepaket ausgestattet, das ein unübertroffenes Maß an Kontrolle und Unterstützung während des Test- und Messtechnikprozesses bietet. Dieses Softwarepaket ermöglicht es Benutzern, Prozesse an bestimmte Wafer-Anwendungen anzupassen und gleichzeitig eine nahtlose Umgebung bereitzustellen, die die Geräteleistung optimiert und zuverlässige Ergebnisse gewährleistet. Zusammenfassend ist ACCRETECH E-MF1000-100 eine fortschrittliche Wafertest- und Metrologieeinheit, die entwickelt wurde, um Ausbeute, Durchsatz und Genauigkeit im Halbleiterherstellungsprozess zu maximieren. Mit seiner hochmodernen optischen Struktur, den vollständigen elektrischen Testfunktionen, der integrierten Maschinenplattform und dem Softwarepaket bietet ACCRETECH/TSK E MF1000 100 eine Vielzahl von Fähigkeiten und ist damit eine ideale Lösung für die Test- und Messtechnik-Anforderungen der modernen Halbleiterindustrie.
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