Gebraucht KLA / TENCOR 4000 SURFSCAN #9388542 zu verkaufen

ID: 9388542
Wafergröße: 2"-6"
Wafer inspection system, 2"-6" Substrate thickness: Semi standard thickness High angle optics.
KLA/TENCOR 4000 SURFSCAN ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die eine breite Palette automatisierter, fortschrittlicher Wafer-Scan- und Analysefunktionen bietet. Das System kombiniert fortschrittliche Technologie und innovative Funktionen, um Wafer-Charakterisierung und Analyse mit hoher Geschwindigkeit und Genauigkeit zu ermöglichen. Der SURFSCAN 4000 ist für anspruchsvollste Wafer-Testumgebungen konzipiert und eignet sich auch für Feld- und Labormessungen. KLA 4000 SURFSCAN verwendet hochdynamische Bildgebungs- und Laser-Streualgorithmen, um eine breite Palette von physikalischen und chemischen Eigenschaften auf einem Einzelwafer innerhalb von Minuten zu messen. Diese Technologie ermöglicht die schnelle Erfassung und Charakterisierung aller relevanten Düsenlevel-Eigenschaften, einschließlich vertiefter Dielektrika, Flip-Chip-Lötkugel Position und Größe, offene/geschlossene Kontakte, erhöhte Stempel, Lötpaste, Noten und Kugel- und Ätzfehler. Die Wafer-Messtechnik wird durch den Einsatz von Autofokus-Fähigkeiten zur genauen Untersuchung der Oberflächentopographie des Wafers weiter verbessert. Die SURFSCAN 4000 Einheit ist mit automatisierter Inspektion, umfassenden Bordmesstechnik-Funktionen und leistungsstarken Datenanalysefunktionen ausgestattet. Ein fortschrittliches Optik-Subsystem bietet überlegene Bildgebung und berührungslose Wafer-Messtechnik und erweitert die Fähigkeiten der Maschine, Oberflächenparameter wie Knoten, Ausstülpungen, Schlupfe usw. zu messen. Automatisierte Inspektionen und messtechnische Funktionen werden über eine grafische Benutzeroberfläche (GUI) betrieben, um schnelle Messungen und Analysen sowohl einzelner als auch mehrerer Wafer-Losuntersuchungen zu ermöglichen. Die fortschrittliche Datenanalyse bietet eine umfassende Palette von Messfähigkeiten, einschließlich, aber nicht beschränkt auf, Drop-Detektor, Eckdetektoren, Sichtfeld, Signal-zu-Rauschen-Messung und Ätzrate. Das integrierte optische Prüf- und Messtechnikwerkzeug ermöglicht konsistente, wiederholbare Messungen und eliminiert kostspielige Dateninterpretationen. Die Anlage SURFSCAN 4000 ist die führende Branchenlösung für Wafertests und Messtechnik. Mit seiner fortschrittlichen Technologie und innovativen Funktionen bietet es höhere Geschwindigkeit, Genauigkeit, Wiederholbarkeit, Kosteneffizienz und Flexibilität, um die anspruchsvollsten Anforderungen an Wafer-Test und Messtechnik zu erfüllen. Es ist die optimale Lösung für routinemäßige und volumenstarke Wafer-Testanforderungen sowie Feld- und Laboranwendungen.
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