Gebraucht KLA / TENCOR 4500 SURFSCAN #293598476 zu verkaufen

KLA / TENCOR 4500 SURFSCAN
ID: 293598476
Wafer inspection system.
KLA/TENCOR 4500 SURFSCAN ist ein revolutionäres Wafer-Prüf- und Messtechniksystem, das zur Überwachung der Leistung und Qualität von Halbleiterchips entwickelt wurde. Mit seinem integrierten Kombisensor bietet KLA 4500 SURFSCAN eine umfassende Sensorplattform zur Überwachung eines umfassenden Spektrums von Mikrostrukturen auf der Oberfläche eines Wafers. Seine hohe Leistung und Skalierbarkeit macht es ideal für eine Vielzahl von Anwendungen, von der Suche und Entwicklung über die Fehlerverfolgung bis hin zur Vor-Ort-Messtechnik. Das Herzstück von TENCOR 4500 SURFSCAN ist sein Combo-Sensor, der aus vier verschiedenen Probern für eine Vielzahl von Messungen besteht, die Kontur, reflektiertes Licht und Kontur/Reflexion umfassen. Der Konturprober vergleicht ein 3D-Profil der Waferoberfläche mit dem vorherigen Scan, sodass die Maschine eventuell aufgetretene Änderungen erkennen kann. Der reflektierte Lichtprober erfasst dann Licht, das unter verschiedenen Winkeln von der Oberfläche des Wafers reflektiert wird, um ein Bild zu bilden, mit dem bestimmte Strukturen identifiziert werden können. Der Kontur/Reflexionsprober kombiniert beide Prozesse zu einem noch detaillierteren Bild der Waferoberfläche. 4500 SURFSCAN wird auch mit leistungsfähiger Bildverarbeitungs- und Analysesoftware geliefert. Es nutzt fortschrittliche Algorithmen, um Bilder zu analysieren und Oberflächenvariationen zu erkennen, die auf Fehler hinweisen können. Die Software kann auch verwendet werden, um Daten zu interpretieren und Berichte basierend auf den Ergebnissen von Scans zu generieren. Darüber hinaus kann sich KLA/TENCOR 4500 SURFSCAN in andere Systeme und Prozesse integrieren und somit Teil eines automatisierten Workflows zur Herstellung von Wafern sein. KLA 4500 SURFSCAN ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Inspektion und Analyse von Oberflächenmerkmalen auf Halbleiterscheiben. Es liefert ein unglaublich detailliertes Bild der Waferoberfläche und kann selbst kleinste Defekte erkennen. Seine ausgeklügelten Bildverarbeitungs- und Analysefunktionen sowie seine Fähigkeit, sich mit anderen Systemen und Prozessen zu integrieren, machen es zu einem unglaublich leistungsfähigen Kapital für jede Waferherstellungsanlage.
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