Gebraucht KLA / TENCOR 4500 SURFSCAN #9356377 zu verkaufen

ID: 9356377
Weinlese: 1987
Wafer inspection system 1987 vintage.
KLA/TENCOR 4500 SURFSCAN Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein automatisiertes Messtechnik-Tool zur Inspektion von mikroelektronischen Chips. Dieses System ermöglicht die Überprüfung mehrerer Schichten und Komponenten von mikroelektronischen Bauelementen wie Transistoren, Widerständen, Kondensatoren und anderen kleinen elektronischen Bauelementen. Dieses Gerät bietet auch eine detaillierte automatisierte elektrische Prüfung der Wafer. Die Maschine KLA 4500 SURFSCAN verwendet eine fortschrittliche optische Abtasttechnologie, um Fehler in den elektrischen Eigenschaften der Wafer zu erkennen. Dieses Tool verwendet eine fortschrittliche laserbasierte Anlage, um elektrische Eigenschaften wie Widerstand, Kapazität, Dünnschichtschichten und Metallurgie zu erkennen. Dieses Modell ist mit einer Präzisionsflächenkarte ausgestattet, die kleine Unregelmäßigkeiten in der Oberfläche des Wafers erkennen kann. Der 4500 bietet ein fortschrittliches, ausfallsicheres Management mit fehlertoleranten Bildgebungsfunktionen. Das Gerät ist hochautomatisiert und verfügt über eine komplette Palette von Tools zur Datenerfassung, -analyse und -visualisierung. Der 4500 verfügt auch über fortschrittliche Metrologie-Algorithmen, die für jeden Wafer oder jede Stanzpartie spezifisch sind. Diese Technologie dient der schnellen und genauen Analyse elektrischer Messgrößen für schnelle und zuverlässige Ergebnisse. Zusätzlich zu den Funktionen des Systems bietet der 4500 auch eine umfassende Reihe von Softwareoptionen, mit denen der Benutzer die Inspektion an seine spezifischen Testanforderungen anpassen kann. Dies beinhaltet die Möglichkeit, die Scangeschwindigkeit, Empfindlichkeit, Filtereinstellungen und Schattierungsalgorithmen zu steuern. Diese Anpassungen bieten dem Benutzer die Möglichkeit, seine Tests an die individuellen Anforderungen jedes Wafers anzupassen. TENCOR 4500 SURFSCAN bietet eine hohe Genauigkeit und Reproduzierbarkeit der Ergebnisse. Dieses Gerät ist in der Lage, zahlreiche verschiedene Fehler zu erkennen und genaue Messungen und Analysen durchzuführen. Darüber hinaus bietet die Maschine ein umfassendes Datenmanagement-Tool zur Erstellung von Berichten und zur Archivierung von Messungen. Dieses Gut kann mit verschiedenen Arten von Wafern verwendet werden, einschließlich Metallfolie und Band, Flip-Chip, gewürfelte Wafer und thermisch kompressionsbonierte Wafer. 4500 SURFSCAN ist ein leistungsstarkes und hochautomatisiertes Wafertest- und Metrologiemodell. Mit seinen schnellen, genauen Test- und Datenanalysefunktionen ist der 4500 eine ausgezeichnete Wahl für die manuelle oder automatisierte Waferinspektion. Es kann in einer Vielzahl von Waferanwendungen von der Halbleiterherstellung bis zur IC-Verpackung verwendet werden. Diese Ausrüstung bietet große Flexibilität und Genauigkeit, so dass sie eine Vielzahl von Qualitätssicherungsanforderungen erfüllen kann.
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