Gebraucht KLA / TENCOR 5107 #9117500 zu verkaufen

KLA / TENCOR 5107
ID: 9117500
Inspection systems, parts systems.
KLA/TENCOR 5107 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein hochentwickeltes Mehrkanalsystem für präzise Wafertests und messtechnische Messungen. Diese Benchtop-Einheit bietet eine breite Palette von Fähigkeiten, einschließlich strukturierter Wafer Defekt Inspektion, 3D-Messtechnik, Linienbreite Messungen, und kritische Dimension (CD) Inspektion. Die KLA 5107 verwendet eine hochauflösende Bildverarbeitungsmaschine, die ein Kontrast-/Rauschverhältnis von mehr als 1:200 für eine Vielzahl von Materialien sowie Muster sowohl gedruckt als auch geätzt erreicht. Zu den Merkmalen des Tools gehören auch ein digitales Servomodul zur Bewegungssteuerung, eine mehrkanalige Integrationsplattform für verbessertes Wafer-Handling und ein außergewöhnlich schnelles Datenerfassungsmodul für genaue Ergebnisse. Die Waferbearbeitung erfolgt automatisch, so dass keine manuelle Handhabung erforderlich ist. TENCOR 5107 bietet auch fortschrittliche Algorithmen zur Analyse und ermöglicht präzise Messungen. Als Ergebnis kann der Vermögenswert Fehler erkennen, die so klein wie 10nm mit einer Genauigkeit von 0.2nm sind. Darüber hinaus kann das Modell die Musterplatzierung mit einer Genauigkeit von bis zu 20 nm messen sowie die Detailgröße in Linienbreitentechnologien verkleinern - ein Schlüsselfaktor in der Welt der Halbleiterherstellung. 5107 enthält auch erweiterte Automatisierungstools für die Verarbeitung, die eine Reihe von Schritten im Zusammenhang mit Wafertests und Messtechnik optimieren. Die automatisierte Ausrüstung ist in der Lage, Messungen in einem einzigen Arbeitsgang zu erkennen, zu replizieren und zu analysieren, wodurch die manuelle Handhabung entfällt. Dies reduziert die Zeit und den Aufwand für die Datenanalyse und ist damit eines der schnellsten verfügbaren Test- und Messsysteme. KLA/TENCOR 5107 bietet fortschrittliche Lösungen für Präzisionswafertests und messtechnische Anforderungen. Mit seiner einzigartigen Kombination aus Automatisierung, hochauflösender Bildgebung und fortschrittlichen Analysetools bietet dieses System Anwendern hochgenaue und effiziente Lösungen. Darüber hinaus sind der Multi-Channel Integration Hub und die außergewöhnlich schnellen Datenerfassungsmodule ideal für alle Anwendungen, die präzise Wafertests und messtechnische Messungen erfordern.
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