Gebraucht KLA / TENCOR AIT 1 #182433 zu verkaufen

ID: 182433
Weinlese: 1998
Darkfield system Dual open handler, 8" 1998 vintage.
KLA/TENCOR AIT 1 ist eine führende Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um eine breite Palette von Parametern auf Halbleiterscheiben effizient und effektiv zu messen, zu analysieren und zu bewerten. Es bietet Echtzeit-Feedback, damit Bediener Prozessparameter optimieren und Prozessergebnisse in jedem Produktionsschritt bewerten können. Um Wafertests zu erleichtern, nutzt KLA AIT 1 die patentierte OptoScribe™ Technologie der UCK. Dieses patentierte optische System gewährleistet eine optimale Messgenauigkeit mit der Fähigkeit, Waferoberflächen und Strukturen im Nanometermaßstab zu überprüfen. Es kann auch eine breite Palette von Defektgrößen von 20-40 μ m bis zu einigen Nanometern messen. TENCOR AIT 1 bietet eine einzigartige Suite an optischen und akustischen Sensorfunktionen, die die Zuverlässigkeit und Präzision der Wafertests gewährleisten. Zum Beispiel ist die Einheit in der Lage, hochgenaue Winkelmessungen. Es hat auch die Fähigkeit, Fehler in Low-Power-Imaging und In-situ-Topographie-Mapping zu erkennen und zu bewerten. AIT 1 bietet eine Vielzahl von Wafergrößen und -konfigurationen, einschließlich fortschrittlicher 2D- und 3D-Wafer. Es bietet auch eine automatisierte Fehlerklassifizierung (ADC) Maschine, die eine effiziente Trennung von aussagekräftigen Ergebnissen von Hintergrundgeräuschen ermöglicht. Das Tool ist auch mit fortschrittlichen Software-Tools ausgestattet, die eine Echtzeitanalyse der Testdaten sowie eine detaillierte Berichtsgenerierung ermöglichen. Darüber hinaus verfügt es über exklusive Rückverfolgbarkeitsfunktionen, die es den Betreibern ermöglichen, Schritte im Testprozess schnell und genau zu verfolgen und zu dokumentieren. Dies trägt zur Sicherstellung der Prozesswiederholbarkeit und Qualitätskontrolle bei. Hinsichtlich seiner Hardwarefunktionen bietet KLA/TENCOR AIT 1 eine breite Palette von Optionen. Dazu gehören ein programmierbarer Bewegungstisch zur Wafer-Lokalisierung und Scan-Ausrichtung, ein kontrastreicher BGA-Inspektionskopf und Rückkopplungsmodule zur automatischen Erfassung. Alle Software- und Hardwarekomponenten arbeiten zusammen, um die Genauigkeit, Präzision und Qualität der Ergebnisse von KLA AIT 1 Asset zu garantieren. Insgesamt ist TENCOR AIT 1 ein wesentliches Werkzeug für Halbleiterhersteller, die effiziente, zuverlässige Wafertests und Messtechnik benötigen. Das beeindruckende Spektrum an Funktionen, erweiterte Software- und Hardwarefunktionen sowie ein robustes Rückverfolgbarkeitsmodell machen es zu einer führenden Wahl für die Qualitätssicherung.
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