Gebraucht KLA / TENCOR / PROMETRIX AIT I #9299885 zu verkaufen

KLA / TENCOR / PROMETRIX AIT I
ID: 9299885
Wafergröße: 6"
Inspection system, 6".
KLA/TENCOR/PROMETRIX AIT I ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die fortschrittliche Bildgebungs- und Messtechnik verwendet, um eine hohe Präzision bei der Erkennung und Bildgebung von Waferdefekten zu gewährleisten. Das Gerät ist Teil des Array Inspection Technology (AIT) -Portfolios, das die strengen Anforderungen an fortschreitende Anwendungen wie MEMS (Micro-Electromechanical Systems), Leistungsgeräte, gesamte Waferanalyse und andere bildbasierte Defektivitätsanwendungen erfüllt. KLA AIT I System enthält einen schnellen Laserscanner, der hochpräzise Schrittmotoren verwendet, um das Substrat mit Submikron-Auflösung zu scannen. Dieser schnelle Laserscanner ist in der Lage, 3D-Oberflächentopographie, Mehrfachreflexion und Bildschärfe zu verbessern. Eine erweiterte Steuereinheit steuert den Betrieb der TENCOR AIT I Maschine. Das AIT I-Tool bietet zudem hochmoderne Bildverarbeitungs- und Rechenalgorithmen, die für eine schnelle und genaue Waferinspektion und -analyse ausgelegt sind. Diese Algorithmen werden verwendet, um Fehler wie Beulen, Kratzer und Gruben auf einer Waferoberfläche zu erkennen. Das Asset verfügt auch über zahlreiche fortgeschrittene Bildverarbeitungstechniken, wie adaptive Schwellenwerte, Regionen-Merging und Graustufen-Manipulation. Diese Techniken ermöglichen die Erkennung und Quantifizierung sowohl sichtbarer als auch versteckter Defekte, die für eine hochpräzise Waferinspektion und Messtechnik unerlässlich sind. Das Modell PROMETRIX AIT I verfügt zudem über eine leistungsstarke, fortschrittliche Bildverarbeitungsausrüstung, die Waferbilder mit einer höheren Präzision als je zuvor aufnehmen kann. Dieses innovative Bildgebungssystem ist in der Lage, präzise interferometrische Messungen durchzuführen, die die Genauigkeit und Auflösung des Waferbildes deutlich verbessern. Darüber hinaus verfügt das Gerät über ein leistungsfähiges Software-Kalibrierungsprogramm, mit dem genaue Waferprofile für die automatisierte Datenerfassung generiert werden. KLA/TENCOR/PROMETRIX AIT I Maschine wurde entwickelt, um Prozessabläufe zu rationalisieren und Ausfallzeiten zu minimieren, um schnellere Produktlieferungszyklen bereitzustellen und Kosten zu senken. Die robuste Benutzeroberfläche des Tools vereinfacht die Schulung des Bedieners und die Wartung der Produkte. Alle Merkmale dieser Anlage können in die gesamten Produktions- und Qualitätskontrollprozesse integriert werden, um eine zuverlässige Produktintegrität und -funktionalität zu gewährleisten. Das Modell KLA AIT I ist ein unverzichtbares Werkzeug für die Prüfung und Messtechnik von Halbleiterscheiben und anderen hochpräzisen Anwendungen. Seine Vielseitigkeit und Genauigkeit ermöglichen eine schnelle und zuverlässige Erkennung von Defekten, während seine leistungsstarke bildgebende Ausrüstung eine Echtzeitinspektion für hochpräzise Messungen und Analysen gewährleistet. Dieses System ist ideal für die moderne Halbleiterherstellung und passt perfekt zu den Bedürfnissen der sich ständig verändernden Technologielandschaft.
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