Gebraucht PLASMOS SD 2002 #16921 zu verkaufen

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PLASMOS SD 2002
Verkauft
Hersteller
PLASMOS
Modell
SD 2002
ID: 16921
Wafergröße: 8
Weinlese: 1998
Ellipsometer.
PLASMOS SD 2002 Ellipsometer ist eine optische Film-Charakterisierungseinrichtung, die die Dicke und optische Konstanten von dünnen Filmen zerstörungsfrei und genau misst. Es wird in der Halbleiterverarbeitung, in der LCD-Produktion und in der Analyse von optischen Beschichtungsmaterialien verwendet. SD 2002 verwendet einen MgF2 Strahlteiler, der leicht und einfach zu bedienen ist. Es verfügt über einen integrierten Computer mit einem Touchscreen-Interface, das Sie durch die Schritte führt, die erforderlich sind, um Lesungen zu machen. Das System ist in der Lage, Filme, die so dünn wie 0,2 nm sind, automatisch zu messen und kann Filme so dick wie 1,2 μ m messen. Es hat auch einen großen dynamischen Bereich von 0 bis 70 Grad der Inzidenz. Das Gerät verfügt über eine Datenspeicherkapazität von bis zu 1000 Messwerten und die Daten können zur weiteren Analyse auf ein USB-Laufwerk heruntergeladen werden. Die Maschine verfügt über einen vollen Wellenlängenbereich von 190nm bis 1050nm, wodurch Filme unter 1 nm Dicke gemessen werden können. Es hat einen 10mm Strahlfleck, so dass es ideal für Messungen von kleinen Strukturen. PLASMOS SD 2002 verfügt über eine breite Palette von Probenhaltern, die für verschiedene Anwendungen wie flache Oberflächen, V-Nut-Proben und Stufenproben entwickelt wurden. Diese Probenhalter machen es einfach, verschiedene Filmdicken mit demselben Werkzeug zu messen. SD 2002 ist vollautomatisiert und macht den Messvorgang effizient, schnell und präzise. Das Asset umfasst auch Tools zur Datenanalyse und Visualisierung, mit denen Sie Daten in einem standardisierten Format erfassen, analysieren und speichern können. Es beinhaltet Tools für Reporting, Modelloptimierung sowie Plot- und Graphing-Funktionen. Das Gerät enthält auch eine benutzerdefinierte Bibliothek, die in Forschungsanwendungen sehr nützlich ist. Die Bibliothek ermöglicht es dem Benutzer, häufig verwendete physikalische Konstanten und Beispieltypen zu speichern, die in das System geladen werden können, um die Verwendung zu erleichtern. PLASMOS SD 2002 ist ein innovatives optisches Foliencharakterisierungswerkzeug, das den Prozess der Foliencharakterisierung vereinfacht. Es ist die perfekte Passform für die Halbleiterverarbeitung und LCD-Produktion und ist zuverlässig und benutzerfreundlich.
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