Gebraucht RUDOLPH FE III #9100481 zu verkaufen

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RUDOLPH FE III
Verkauft
Hersteller
RUDOLPH
Modell
FE III
ID: 9100481
Wafergröße: 8"
Film thickness measurement system, 8".
RUDOLPH FE III ist ein Ellipsometer, ein Gerät, das typischerweise zur Messung der optischen Eigenschaften von dünnen Filmen und Substraten verwendet wird. Dieses fortschrittliche Werkzeug ist in der Lage, die optischen Eigenschaften von dünnen Filmen mit nanometrischer Genauigkeit zu messen und wird in einer breiten Palette von wissenschaftlichen Anwendungen eingesetzt, einschließlich Optik, Elektronik, Materialwissenschaft und Biologie. Die Grundoperation von RUDOLPH FEIII ist die Messung der optischen Eigenschaften eines dünnen Films durch die Verwendung des Phänomens der Ellipsometrie. Dabei handelt es sich um ein optisches Verfahren, bei dem polarisiertes Licht auf ein Objekt einfällt und die Eigenschaften des reflektierten Lichts gemessen werden. Die Änderungen des Polarisationswinkels und der Intensität des reflektierten Lichts werden dann zur Berechnung der optischen Konstanten der Probe herangezogen. FE-III verfügt über Hochleistungsmerkmale, die eine genaue Messung der Dünnschichteigenschaften ermöglichen. Dazu gehören ein hochauflösendes Polarimeter, ein MTECA CCD-Detektor, ein speziell entwickelter optischer Pfad und eine intuitive Benutzeroberfläche. FEIII umfasst ferner zwei Integrationskammern, ein optisches Wegstabilitätssystem und ein langwelliges System, das die Messung von Filmen im Bereich von 450-1000nm ermöglicht. RUDOLPH FE-III ist in der Lage, eine breite Palette von ellipsometrischen Anwendungen. Die Messfähigkeiten der Vorrichtung umfassen die Bestimmung von Dicke und optischen Konstanten dünner Filme sowie die Analyse von Brechungsindizes in ein-, mehrschichtigen und mehrschichtigen Oberflächen. FE III hat auch die Fähigkeit, in Echtzeit zu erfassen, zu analysieren und zu visualisieren, was eine zuverlässige Datenerfassung und -berichterstattung ermöglicht. Kurz gesagt, RUDOLPH FE III ist ein fortschrittliches Ellipsometer, das die Bestimmung der optischen Eigenschaften von dünnen Filmen und Substraten mit hoher Genauigkeit ermöglicht. Der lange Wellenlängenbereich, die intuitive Benutzeroberfläche und die leistungsstarken Funktionen machen ihn zu einem unverzichtbaren Werkzeug für wissenschaftliche und industrielle Anwendungen.
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