Gebraucht ADVANTEST T 5335P #135567 zu verkaufen
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ID: 135567
Weinlese: 1997
Memory test systems
Configuration:
CONFIGURATION OF TEST HEAD
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
TEST HEAD TYPE
1.650CH
2.1300CH [1,2] .....................> 1
PIN CONFIGURATION SLOT NO. [33,97,41,105]
CHILD A ....> 33,41,97,105
CHILD B ....> 33,41,97,105
CHILD C ....> 33,41,97,105
CHILD D ....> 33,41,97,105
PIN CONFIGURATION OPTION1 PIN CARD [Y,N]
CHILD A ....> YES
CHILD B ....> YES
CHILD C ....> YES
CHILD D ....> YES
PIN CONFIGURATION OPTION2 PIN CARD [Y,N]
CHILD AB ...> YES
CHILD CD ...> YES
BYPASS CAPACITOR TO 10V/16V PPS (PCON)
1.NON-EXISTENT
2. EXISTENT [1,2] ..............> 1
BYPASS CAPACITOR TO HV PPS (PCON)
1.NON-EXISTENT
2. EXISTENT [1,2] ..............> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
TEST HEAD TYPE
1.650CH
2.1300CH [1,2] .....................> 1
PIN CONFIGURATION SLOT NO. [33,97,41,105]
CHILD A ....> 33,41,97,105
CHILD B ....> 33,41,97,105
CHILD C ....> 33,41,97,105
CHILD D ....> 33,41,97,105
PIN CONFIGURATION OPTION1 PIN CARD [Y,N]
CHILD A ....> YES
CHILD B ....> YES
CHILD C ....> YES
CHILD D ....> YES
PIN CONFIGURATION OPTION2 PIN CARD [Y,N]
CHILD AB ...> YES
CHILD CD ...> YES
BYPASS CAPACITOR TO 10V/16V PPS (PCON)
1.NON-EXISTENT
2. EXISTENT [1,2] ..............> 1
BYPASS CAPACITOR TO HV PPS (PCON)
1.NON-EXISTENT
2. EXISTENT [1,2] ..............> 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> NO
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-16] .............> 1-16
10V PPS CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
16V PPS CONFIGURATION [17-32] ............>
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............>
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-16] .............> 1-16
10V PPS CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
16V PPS CONFIGURATION [17-32] ............>
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............>
1'ST GPIB I/F BOARD
0.NONE
1.BGR-010944X01
2.BGR-010944X02
3.BGR-010944X03
4.BGR-010944X04
5.BGK-012718 [0-5] .........> 0
2'ND GPIB I/F BOARD
0.NONE
1.BGR-016793 (DPU I/F)
2.BGR-010944X05
3.BGK-012718X02 [0-3] .........> 1
DMM TYPE 1.TR6861
2.R6871E
3.R6551
4.R6552T [1-4] .........> 4
AC FREQUENCY (HERTZ) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0-4] .........> 4
SIZE OF FM MODULE
1. 1M
2. 4M
3. 8M [1-3] .........> 1
NUMBER OF MEMORY BANK [1-2] .........> 1
NUMBER OF MEMORY BLOCK [1-4] .........> 4
PATTERN MEMORY [Y,N] .........> NO
FM BOARD KIND 1. BGR-020816
2. BGR-020816X02 [1-2] ..............> 2
CONFIGURATION OF MRA
MRA2/3 OPTION [Y,N] ...........................> YES
MRA OPTION TYPE [2,3] (2=MRA2,3=MRA3) ...........> 2
TYPE OF CBU BOARD [1,2] (1: BGR-019267 )
(2: BGR-019267X02) ....> 1
NUMBER OF CBU BOARD [1,2,3,4] .......................> 2
TYPE OF FBM BOARD [1,2,3,4] (1= 4M*36BIT)
(2= 4M*72BIT)
(3= 8M*72BIT)
(4=16M*72BIT) .........> 3
NUMBER OF FBM BOARD [1-4] ...........................> 4
COMPRESSION FUNCTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FCDC
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
SC BOARD KIND 1. BGR-020774
2. BGR-020774X02 [1-2] ..............> 1
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1997 vintage.
ADVANTEST T 5335P ist eine FINAL TEST-Ausrüstung, die für Ingenieure und Fachleute in verschiedenen Bereichen wie Elektronik, Automobil und Robotik entwickelt wurde. Dieses System bietet High-End-Lösungen zur Durchführung von Tests im Zusammenhang mit der Überprüfung und Fehlersuche auf Einheitenebene. ADVANTEST T5335P bietet ein umfassendes Angebot an Testprogrammierbarkeit und umfassenden Tests; präzise Maschinentestszenarien, Verifizierung, Debugging, Analyse und Optimierung von Multi-Core-Tool-on-Chip (SoC) -Geräten. Es umfasst eine programmierbare digitale Signalverarbeitungsplattform (DSP), die bei der Konfiguration von Analog-Digital- und Digital-Analog-Signalkonvertierung helfen kann, um benutzerdefinierte Testlösungen zu erstellen. Darüber hinaus können elektronische Geräte über programmierbare Netzteile (PPS) hochgefahren werden, während detaillierte Konstruktionsdaten über Oszilloskope erfasst werden. Fortgeschrittene Testwerkzeuge wie Fast Fourier Transform (FFT) und Vector Signal Analyzer können die Signalverarbeitung sowie Simulations- und Emulationslösungen konfigurieren und optimieren. T 5335 P kann auch zum Halbleiterparametrischen Test (SIP) zur Parameterschätzung und -validierung verwendet werden. Darüber hinaus ermöglicht diese Testanlage Signal- und Zeitkorrelation für Anwendungen wie Audio- und Videotests. Tests können sowohl im Bereitschaftsmodus als auch im aktiven Modus durchgeführt werden. Schließlich bietet T 5335P Debug-Time-Reduktionen für Produktionsabläufe und erweiterte Debugging-Funktionen mit Echtzeit-Breakpoints und Trace-Captures. Es ist auch mit Datenverwaltungsfunktionen ausgestattet, um genaue und effiziente Hardware- und Softwaretests zu gewährleisten. Dazu gehören BDS-Optionen (Big Data Storage) mit der Möglichkeit, eine Vielzahl von Testdaten zu speichern, einschließlich Wellenformen und Timing-Diagramme. Insgesamt ist es ein fortschrittliches Testmodell mit einer vielseitigen Palette von Final Test-Lösungen.
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