Gebraucht THERMA-WAVE TP 420 #9187284 zu verkaufen

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THERMA-WAVE TP 420
Verkauft
ID: 9187284
Wafergröße: 8"
Ion implant monitor system, 8".
THERMA-WAVE TP 420 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein innovatives Werkzeug der nächsten Generation, das zuverlässige und genaue Ergebnisse für die Analyse und Inspektion von Halbleiterscheiben liefert. Die hochmoderne Technologie dieses Systems liefert hochpräzise 3-dimensionale Daten zu einer Vielzahl von Dimensionen und Attributen, die für die Echtzeit-Messtechnik und direkte 3-dimensionale Fehlerkarten verwendet werden können. TP 420 ist ideal für eine Vielzahl von Wafergrößen von 300 Millimeter bis 8-Zoll-Wafern. Es ist mit modernster Optik ausgestattet, die die dimensionale Charakterisierung von Merkmalen bis zu 150 Nanometern mit Sub-Nanometer-Auflösung ermöglicht. Ein Hauptmerkmal des Geräts ist seine Software, die ein hohes Maß an fortschrittlicher Parametrierung, Minimierung der Fehlerstreuung und eine intuitive grafische Benutzeroberfläche umfasst. Diese Maschine bietet eine effiziente Datenerfassung mit unbegrenzten Anpassungsoptionen, die eine genaue Ausrichtung des optischen Werkzeugs und die Kalibrierung kritischer Parameter während der Datenerfassung gewährleisten. THERMA-WAVE TP 420 verfügt auch über Ultraschallsensoren, um Defekte massenhaft zu erkennen. Die Ultraschallsensoren bieten eine Vorschau der Gesamtzahl der Defekte pro Wafer. Dies stellt sicher, dass sowohl die Tester als auch die Bediener ihre Ergebnisse mit vollständiger Genauigkeit mit den zuvor gewonnenen Ergebnissen vergleichen können. Darüber hinaus können die Ultraschallsensoren mehrere Arten von Defekten gleichzeitig erkennen, wie Risse in Mikrometer-Größe, Turmdefekte, Schlacke und Körner. Zusätzlich zu seinen fortschrittlichen messtechnischen Fähigkeiten bietet TP 420 eine umfassende Suite von Wafer-Testfunktionen für Wafer-Produktion und Prozessentwicklung. Es ist in der Lage, verschiedene Arten von Defekten sowohl auf Makro- als auch auf Mikroebene zu erkennen, von Musterdefekten bis hin zu Kontaminationen auf Kontaktflächen. Die Anlage kann auch Kratzer, Kratzer in der Tiefe, Klingeln, Entombment und schlechten elektrischen Kontakt erkennen, um sicherzustellen, dass das Endprodukt fehlerfrei ist. Schließlich kann THERMA-WAVE TP 420 in bestehende Produktionssysteme integriert werden und liefert schnelle und genaue Ergebnisse im Workflow. Darüber hinaus ist das Modell auf einfache Wartung und Skalierbarkeit ausgelegt. Der modulare Aufbau ermöglicht bei Bedarf die Modernisierung der Technologie und sorgt dafür, dass sie mit den sich ändernden Anforderungen der Branche Schritt hält. Insgesamt bietet TP 420 Wafer Testing and Metrology Equipment eine umfassende Reihe von Funktionen und Funktionen, die zuverlässige und genaue Ergebnisse gewährleisten und es Kunden ermöglichen, ein fehlerfreies Produkt zu erhalten. Dieses System bietet eine Komplettlösung für Wafertest- und messtechnische Anforderungen und ist damit die ideale Wahl für die Waferproduktion und Prozessentwicklung.
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