Gebraucht ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3100 #9100377 zu verkaufen

Die Advanced Metrology Systems (AMS) ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3100 ist die erste Wahl für überlegene Scan- und Erkennungsfunktionen. Diese nachgeschaltete Prozessinspektionsanlage bietet eine robuste Lösung, die modernste Hardware und intuitive Software kombiniert und es Herstellern ermöglicht, Fehler schnell und genau zu erkennen. Von der Stempelprüfung bis zur Wafer-Kartierung bietet die fortschrittliche Technologie des AMS IR3100 beispiellose Präzision und Zuverlässigkeit. Das System wurde mit einer ergonomischen Vision konzipiert und bietet eine hervorragende Zugänglichkeit zu Komponenten und eine einfache Anpassung, so dass die Bediener von einer benutzerfreundlichen Umgebung profitieren können. Darüber hinaus verfügt ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3100 über eine automatisierte Goniometer-Kassette, die überlegene Genauigkeit, Geschwindigkeit und Vielseitigkeit im Vergleich zu herkömmlichen motorisierten Goniometern bietet. Diese Funktion gewährleistet auch konsistente und zuverlässige Messungen und reduziert gleichzeitig die Anzahl der Kalibrierschritte. Das AMS IR3100 bietet eine ultrahochauflösende Inspektionseinheit, die bis zu 4 M Pixel scannen kann. Es kann Defekte mit einer Größe von bis zu 4 Mikron erkennen, was für die genaue Auswertung von Waferstrukturen unerlässlich ist. Die leistungsfähige Bildgebungstechnologie ermöglicht es auch Herstellern, komplexe Wafer-Mapping und Messparameter durchzuführen. Dies macht die Maschine für eine Reihe von Branchen geeignet, von der Unterhaltungselektronik bis zur Satellitenkommunikation. Neben seinen Erkennungs- und Bildgebungsfunktionen bietet ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3100 auch eine Reihe automatisierter Messtechnik-Funktionen. Dazu gehören Multiplexfunktionen, die es den Operatoren ermöglichen, mehrere Aufgaben gleichzeitig auszuführen; verbesserte Binarisierung zur schnellen und genauen Messung von Bildern; einen 2D-Prüfmotor zur genauen Fehlererkennung; und eine Berichtsmaschine für komplexe Waferinformationen. Alle diese Funktionen sind so konzipiert, dass das Werkzeug die höchsten Standards an Genauigkeit und Wiederholbarkeit erfüllt. Abschließend ist die Advanced Metrology Systems (AMS) IR3100 eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektion, die überlegene Scanfunktionen bietet. Die fortschrittliche Technologie ermöglicht eine schnelle und zuverlässige Fehlererkennung und -messung, während die automatisierten Messtechnik-Funktionen es Anwendern ermöglichen, komplexe Aufgaben mit Leichtigkeit und Genauigkeit durchzuführen. Seine ergonomischen Eigenschaften bieten eine hervorragende Zugänglichkeit und machen das Modell zu einer würdigen Wahl für Hersteller, die nach einer zuverlässigen Lösung für ihre Masken- und Waferinspektionsbedürfnisse suchen.