Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 300 #9203056 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 300 ist ein Prober, der für den Einsatz bei der Analyse von Halbleiterscheiben mit modernster Technologie entwickelt wurde. Die Sonde nutzt die Prinzipien der optischen, elektrischen und mechanischen Messtechnik, um die genauesten Daten über ein Gerät bereitzustellen. Dies geschieht durch die Verwendung einer Sondenkarte, die gegen den zu prüfenden Wafer gehalten wird. TSK UF 300 ist so effizient wie möglich konzipiert und vereinfacht gleichzeitig die Messabläufe, so dass jeder Anwender sie abschließen kann. Es verfügt über eine automatisierte Nadelausrichtung und eine einstellbare Höhenkontrolle, um Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Wafer-Sondierung zu gewährleisten. Die Z-Achse hat eine Reichweite von ± 3mm, während die X- und Y-Achsen im Bereich von 300mm × 300mm bewegbar sind. ACCRETECH UF300 verfügt auch über eine branchenführende fortschrittliche Vision-Ausrüstung, die in der Lage ist, Linien so dünn wie 0,1 µm zu lesen, so dass das System während des Testprozesses äußerst genaue Daten liefern kann. Das Gerät verwendet auch die Bildverarbeitung, um das Gerät automatisch zu analysieren. Dadurch wird der Zeitaufwand für jeden Test optimiert. ACCRETECH UF 300 hat wegen seiner großen Abbildungsfläche von 375mmØ und seiner Fähigkeit, sowohl defekte Teile als auch Teststellen an jeder Stelle des Waferschaltkreises zu erkennen, einen breiten Einsatz erlebt. Es verfügt auch über einen automatischen, mehrstufigen Warncomputer, der für die einzelnen Anwendungen des Clients konfiguriert werden kann. Einstellbare Lichtquellen, Strobelight, Polarisationsfilter und Spiegel zur Binarisierung ermöglichen auch die absolute Bestimmung von Instrumentenparametern während der Prüfung. Zusammenfassend ist UF 300 ein Prober, der einen überlegenen Standard an Datengenauigkeit bei der Analyse von Halbleiterwafern liefert. Seine automatisierte Nadelausrichtung und die einstellbare Höhenkontrolle sorgen für Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Wafer-Sondierung, während sein fortschrittliches Vision-Tool, sein großer Bildverarbeitungsbereich und sein mehrstufiges Alarm-Asset für einen effizienten Testprozess sorgen. Alle diese Funktionen machen TSK UF300 eine sehr beliebte Wahl, wenn es um Wafer-Tests geht.