Gebraucht ELECTROGLAS 4085X #19607 zu verkaufen

ELECTROGLAS 4085X prober ist eine fortschrittliche Sondierungs- und Testausrüstung, die entwickelt wurde, um Halbleiterbauelemente genau zu messen, zu testen und zu analysieren. 4085X ist ein vollständig integriertes System, das leistungsstarke Sondierungsfunktionen und automatisierte Testanalysen sowie eine ausgeklügelte Diagnoseunterstützung bietet. Es wurde entwickelt, um den Ertrag zu verbessern und die Testkosten zu senken, indem es Hochgeschwindigkeitssondierung, erweiterte Fehleranalyse und -mapping sowie automatisierte DRC/LVS-Regelprüfung verwendet. ELECTROGLAS 4085X basiert auf exklusiven automatischen Positionierungsmerkmalen von ELECTROGLAS, die eine schnelle Platzierung und genaue Ausrichtung ermöglichen. Seine Regeleinheit bietet eine schnelle und genaue Positioniersteuerung, während die integrierte automatische Füll- und Justiermaschine für präzise Parallelität sorgt. Die Dual-Head-Bandmessungen bieten zusätzliche Genauigkeit, während die integrierte automatische Belastung eine optimale Ausrichtung der Gesenkflächen gewährleistet. Die Sondierungs- und Testsysteme von 4085X verfügen über ein Hochgeschwindigkeits-Verbindungswerkzeug mit hoher Auflösung und ein erweitertes Sondenausrichtungs-Asset, das Funktionen wie Scan-basierte Tests, thermische Bildgebung und schnelle Fehlerlokalisierung umfasst. Sein fortschrittliches Fehleranalysemodell bietet eine grafische Darstellung der Fehlerstellen und seine leistungsschwachen, hochauflösenden Teststrukturen ermöglichen eine umfassende Prüfung von Gerätestrukturen. ELECTROGLAS 4085X bietet zudem ein umfassendes Diagnosegerät mit intelligenter und regelbasierter Diagnoseanalyse und -berichterstattung. Es bietet Details zu Schaltungsebenen, die Pad-Schichten und ESD-Ebenen, sowie integrierte Diagnose und Regelprüfung. Darüber hinaus ermöglicht das automatisierte Testsequenzierungssystem eine umfassende Prüfung einzelner Substrate und Geräte. 4085X ist eine hochentwickelte Halbleiterprüf- und Analyseeinheit, die entwickelt wurde, um Halbleiterbauelemente genau zu messen, zu testen und zu diagnostizieren. Seine einzigartigen automatischen Positionierungs- und Ausrichtungssysteme, fortschrittliche Sondenausrichtungs- und Diagnosesysteme sowie leistungsschwache, hochauflösende Teststrukturen machen es zu einem idealen Instrument für überlegene, kostengünstige Tests und Analysen von Halbleiterbauelementen.