Gebraucht AMRAY 1850FE #9112113 zu verkaufen

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ID: 9112113
Scanning Electron Microscope (SEM).
AMRAY 1850FE ist eine Reihe von Feldemissionsrasterelektronenmikroskopen (FESEMs), die von der FEI Company hergestellt und vertrieben werden. Sein Design basiert auf einer 120kV Vakuumsäule, einer IEEE- und Non-IEEE-konformen elektronenoptischen Linsenbildung und einer Omega/Röntgendetektorausrüstung. Im Grunde ist FESEM eine bildgebende Technik, die Elektronen anstelle von Licht verwendet, um vergrößerte Bilder einer Probe zu erhalten. Es kann ein Objekt bis zu dem 300.000-fachen seiner tatsächlichen Größe vergrößern und eine starke Auflösung bis auf 1 nm bieten. Was 1850FE Serie angeht, ist dieses erstklassige Mikroskopmodell ideal für Forscher und Wissenschaftler, die bei ihren Beobachtungen und Experimenten weitere Details und Auflösungen benötigen. Es produziert leicht ähnliche Ergebnisse wie das herkömmliche SEM mit größerer Kontrolle und Reichweite der Operationen. AMRAY 1850FE ist mit einer Probenmanipulationskammer ausgestattet, mit einem eigenen digitalen Steuerungssystem, das eine x-, y-, z-Probenbewegung und -verfolgung bietet. Darüber hinaus ist eine einzigartige Steuereinheit mit der Maschine installiert, die den Durchgang der Probe zum Probenkammereingang ermöglicht, ohne Komponenten zu wechseln, wodurch sie für eine Reihe von Anwendungen von 2D-Bildgebung bis zur Inspektion von Proben mit komplexen Geometrien gut geeignet ist. Die EM-Power-Maschine ist in der Lage, selbst kleinste Unterschiede in der Probengröße zu erkennen, wenn sie sich zwischen Hunderten von Nanometerbereichsänderungen in der x- und y-Achse bewegt. Die Hauptkomponenten der 1850FE sind in mehrere Besonderheiten unterteilt. Die primäre Elektronenquelle zur Detektion und Abbildung der Probe stammt von einer Kaltfeld-Emissionskanone. Diese beugt die Elektronen in einen fokussierten Elektronenstrahl, der dann in die Linsensäule gelangt. Dies wiederum lenkt den Elektronenstrahl gerade durch die Probe, wobei die Ablenkspule beim Durchlaufen der Probe Verzerrungen innerhalb des Strahls erzeugt. Dies ermöglicht eine Umkehrung des Kontrastes der Probe von Dunkel zu Licht, je nach Material der Probe. Auch die elektronenoptische (EO) Säule des Mikroskops ist für eine bessere und klarere Übertragung der Elektronen einstellbar. Hindernisse, die den Elektronenstrahl blockieren, werden durch die EO-Säule verhindert. Schließlich ist der letzte Bestandteil von AMRAY 1850FE der Detektor. Der Detektor ist verantwortlich für die Bereitstellung genauer Bilder der Probe, diese linearen Arrays von Pixeln sammeln die Elektronen, die die Probe treffen und übertragen sie zurück zum Monitor des Benutzers als EM-Bild oder SEM-Mikrograph. Schließlich arbeitet der EM-Detektor mit dem EM-Elektrowerkzeug zusammen, um eine vergrößerte Ansicht der Probe zu ermöglichen, die weit detaillierter ist als das mittlere Mikroskop.
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