Gebraucht AMRAY 3200C #9194584 zu verkaufen

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AMRAY 3200C
Verkauft
ID: 9194584
Scanning electron microscope (SEM).
AMRAY 3200C ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die hochauflösende Bildgebung und Analyse verschiedener Materialien. Das SEM verwendet eine Elektronensäule und einen Detektor, um Bilder der Probe mit einer Auflösung von bis zu 4 Nanometern lateraler und 1 Nanometer Tiefe zu erfassen. 3200C ist mit einer Beschleunigungsspannung von bis zu 30 kV und einer Punktgröße von 18 Nanometern ausgestattet und eignet sich somit optimal für hochauflösende Abbildungen und Messungen. Das Sichtfeld des SEM ist einstellbar und kann bis zu einem Durchmesser von 2,5 Nanometern eingestellt werden, was eine präzise Abbildung oder Analyse eines einzelnen Punktes ermöglicht. Die Betriebsbedingungen des Gerätes können auch ferngesteuert eingestellt und gesteuert werden, um die gewünschten Bedingungen für bestimmte Anwendungen zu schaffen. Dazu gehören Funktionen wie Beschleunigungsspannung, Druck und Temperatur. AMRAY 3200C ist mit mehreren Funktionen ausgestattet, die es ideal für die Bildgebung und Analyse machen. Es verfügt über eine automatisierte Stufe zur präzisen Positionierung von Proben, eine Elektronenquelle für Hochstromabbildungen und -analysen sowie eine koaxiale Linse, die vergrößerte Bilder mit minimalen Aberrationen liefert. Es stehen Mehrkanaldetektoren zur Verfügung, die verschiedene Signalverarbeitungsfunktionen ermöglichen. Zusätzlich enthält das SEM ein integriertes Niedervakuumsystem zur Analyse von nichtleitenden Proben. Das SEM verfügt auch über eine Vielzahl von Zubehör, das verwendet werden kann, um das Gerät Setup für bestimmte Anwendungen anzupassen. Dazu gehören eine Kryotransferstufe, eine Hochtemperatur-Probenstufe sowie eine Reihe von Sonden zur Manipulation der Probe während der Aufnahme von Bildern oder der Durchführung von Messungen. Neben seinen bildgebenden und analytischen Fähigkeiten eignet sich 3200C auch für andere Anwendungen wie Sputterbeschichtung, Korrosionsprüfung und Fehleranalyse. Das SEM ermöglicht eine schnelle Bearbeitung von Proben mit nahezu sofortiger Rückmeldung und eignet sich somit optimal für schnelle Diagnosetests. Insgesamt ist AMRAY 3200C ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das für eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich Bildgebung und Analyse, sowie andere Anwendungen geeignet ist. Es bietet hochauflösende Bildgebungs- und Analysefunktionen sowie einstellbare Bedingungen und eine Reihe von Zubehör zur Anpassung des Instrumentenaufbaus an bestimmte Anwendungen.
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