Gebraucht HITACHI S-2700 #9046624 zu verkaufen

HITACHI S-2700 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur vergrößerten Abbildung von harten und weichen Materialien verwendet wird. Es ist mit einer SEM-Kammer mit einer Standard 3.2kV Beschleunigungsspannung ausgestattet, die eine hochauflösende Abbildung verschiedener Materialien ermöglicht. Aufgrund seiner hochpräzisen bildgebenden Fähigkeiten ist S-2700 für Anwendungen wie Mikrostrukturanalyse, Fehleranalyse, Metallographie und forensische Analyse weit verbreitet. Der primäre Bestandteil von HITACHI S-2700 SEM ist seine Feldemissionskanone (FEG), die einen fein fokussierten Elektronenstrahl erzeugt, der bei sehr hohen Vergrößerungen zur Abbildung von Proben verwendet werden kann. Das FEG beschleunigt Elektronen aus einem Wolframfaden durch die Verwendung einer Anodenspannung, was zu einem primären Elektronenstrahl führt, der auf dem Weg zur Probe im Durchmesser minimiert wird. Dies ermöglicht eine fokussierte, detailreiche Abbildung von der Probe bei sehr hohen Vergrößerungen. Die Weitwinkelkonfiguration von S-2700 ermöglicht auch die Betrachtung größerer Bereiche in einem einzigen Bild, während das 50mm Objektiv zur Erzeugung hochvergrößerter Bilder beiträgt. Das SEM zeichnet sich zudem durch eine integrale Kammerkonstruktion aus, wodurch zusätzliche Atmosphärensteuerungssysteme wie ein Kryostat oder eine Vakuumdruckeinrichtung entfallen. Dies ermöglicht eine benutzerfreundliche Umgebung, in der Bilder leichter erzeugt werden können. HITACHI S-2700 verfügt über zwei Detektoren zur Bildgebung: einen Sekundärelektronendetektor und einen rückgestreuten Elektronendetektor. Dies ermöglicht sowohl die Oberflächenbildgebung als auch die Querschnittsbildgebung und erzeugt Bilder entweder durch Emittieren von Elektronen auf die Probe oder durch Detektion von Elektronen, die zur tieferen Bildgebung von der Probe gestreut werden. Das Dual-Detektor-System hilft, detaillierte 3D-Bilder zu erfassen und gibt Benutzern mehr Freiheit, die Bilder zu erkunden. S-2700 enthält auch eine integrierte Computersteuerung, die eine einfache Bedienung der Maschine ermöglicht. Dieses Computerwerkzeug ist mit einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche sowie einer Vielzahl von Verarbeitungsparametern zur Optimierung der Bilderfassung und -manipulation ausgestattet. Insgesamt bietet HITACHI S-2700 Rasterelektronenmikroskop eine signifikante Verbesserung der Bildgebung und Datenerfassung gegenüber anderen Mikroskopen, so dass Benutzer hochauflösende Bilder von Proben bei extrem hohen Vergrößerungen erzeugen können. Mit seinem Dual-Detektor-Asset und dem einfachen Computersteuerungsmodell ist S-2700 eine ausgezeichnete Wahl für Mikrostrukturanalysen, Fehleranalysen, Metallographien und forensische Analysen.