Gebraucht HITACHI S-8840 #158597 zu verkaufen

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ID: 158597
Wafergröße: 6"-8"
Weinlese: 1995
CD Scanning electron microscopes (SEM), 6"-8" Parts system Wafer loader Controller and display unit Upgraded to 8840 with (2) detectors EVAC Power supply Currently warehoused 1995 vintage.
HITACHI S-8840 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) der HITACHI High-Technologies Corporation. Es handelt sich um einen variablen Druck SEM, der Funktionen wie eine Hochleistungselektronen-optische Säule, eine Vielzahl von Detektoren und ein optionales energiedispersives Röntgenspektrometer (EDS) bietet. Das System bietet einen beeindruckenden Beschleunigungsspannungsbereich von 1-30 kV bei einer minimalen Spotgröße von 0,8 nm und einer Spotauflösung von 2,1 nm. Die Energieauflösung des Instruments reicht bis zu 0.5eV und der schnelle Scanvorgang mit Hilfe der Beschleunigungsspannung hilft bei der Erzielung von Scans mit einem Durchsatz von fast 30 Bildern pro Sekunde. Das Instrument bietet auch außergewöhnliche Aspektsicht bei niedrigen Vergrößerungen (100x), so dass mehr Informationen aus einer einzigen Probe beobachtet werden können. Die Bildauflösungsfähigkeit des Instruments ermöglicht es, sehr feine Details der Probe zu erhalten. Dieses SEM hat auch eine hohe magnetische Treue durch die optimierte Kombination von Hohlraumform und verwendeten magnetischen Materialien. HITACHI S8840 verfügt aufgrund seiner hochmodernen Elektronenoptik über eine hervorragende Bildgebungsleistung. Die Hochleistungsstufe hat einen großen, berührungslosen Bewegungsbereich von bis zu 70mm in einer Dimension. Insbesondere ist S 8840 SEM sehr benutzerfreundlich konzipiert, um die Probenvorbereitung und den Versuchsaufbau viel einfacher und schneller zu gestalten. Der komfortable Bedienbildschirm auf dem System hilft, aktuelle Experimente zu erleichtern, während verschiedene Automatisierungsfunktionen eine schnelle und einfache Bedienung erleichtern. Das System hat auch andere Funktionen wie Bildstapelung, Bildpräsentation, Partikelgrößenanalyse und automatisierte ALD (atomic layer deposition) Experimente. Insgesamt ist S-8840 ein ideales SEM für diejenigen, die genaue und schnelle Bildgebung und die Fähigkeit benötigen, Proben mit einer Reihe von verschiedenen Detektoren zu analysieren. Seine Vielseitigkeit und Benutzerfreundlichkeit machen es zu einem weit verbreiteten Rasterelektronenmikroskop für jedes Labor.
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