Gebraucht JEOL 2000EX II #9045377 zu verkaufen

JEOL 2000EX II Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein vielseitiges, leistungsstarkes Instrument, das eine hochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Probentypen ermöglicht. JEOL 2000EXII SEM verwendet eine Elektronensäule, die einen Elektronenstrahl mit einer räumlichen Auflösung von besser als 1 Nanometer erzeugt. Dieser Strahl wird auf die Oberfläche der Probe gerichtet und nach dem Durchlaufen gesammelt. Diese gesammelten Informationen werden dann verwendet, um ein computergeneriertes Bild der nanoskaligen Merkmale der Probe zu erstellen. 2000 EX II stellt eine Abbildungskammer mit einer Kollisionskammer zur Verfügung, die es ermöglicht, die durch die Probe hindurchgehenden Elektronen einzufangen. Diese Kollisionskammer macht das SEM gut für die Abbildung von anorganischen Materialien wie Halbleitern, kristallinen und polykristallinen Materialien sowie Keramiken und Metallen geeignet. Seine nanoskalige Auflösung liefert klare Bilder der mikroskopischen Morphologie der Einzelheiten der Probe. 2000EXII bietet auch eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten. Das energiedispersive Röntgenspektrometer (EDS) des Instruments ermöglicht es dem Anwender, Elemente und deren Konzentration in der Probe zu identifizieren, was eine wertvolle Elementaranalyse ermöglicht. Das EDS ist auch mit einer doppelten Betriebsspannung ausgestattet, die eine hochauflösende Analyse von Proben mit atomarer Auflösung ermöglicht. Der Onboard EDAX Backscattered Electron Detector (BED) ermöglicht es dem Anwender, Kristallinitäts-, Phasenzusammensetzungs- und Oxidationszustände zu messen, während die semi-quantitative Analysefähigkeit des Instruments eine schnelle und einfache Charakterisierung der Probe ermöglicht. JEOL 2000 EX II ist hochempfindlich und effizient und bietet dem Anwender hervorragende Bildgebungs- und Analyseergebnisse. Seine hochauflösende Bildgebung, gepaart mit seinen fortschrittlichen analytischen Fähigkeiten machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug in vielen Anwendungen für Forschung und Materialcharakterisierung. Seine Kombination aus Vielseitigkeit, Genauigkeit und Leistung machen 2000EX II zu einer idealen Wahl für Anwender in einer Vielzahl von Bereichen, von der Halbleitertechnik bis zur Materialforschung.