Gebraucht JEOL JSM 6340F #9003281 zu verkaufen
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ID: 9003281
SEM
Specifications:
a. Performance
SEI Resolution : 1.2 nm guaranteed (Acc. V. = 15kV)
2.5 nm guaranteed (Acc. V. = 1kV)
Magnification : x 25 (WD 25 mm) to x 650,000
Accelerating Voltage : 0.5 to 2.9 kV (10 V steps)
2.9 to 30 kV (100 V steps)
Probe Current : 2 x 10-9 to 10-13 A
Image Mode : SEI, LEI
b. Electron Optical System
Electron Gun : High-resolution Conical Anode Field Emission Gun with Cold Cathode
Alignment : Mechanical and Electromagnetic Deflection
Condenser lens (C.L.) : Electromagnetic 2-stage zoom lens
Objective lens (O.L.) : Superconical CF (corrected field) lens
O.L. Apertures : Variable, 4-step click-stop type
c. Specimen Stage
Type : Fully Eccentric Goniometer
Movement : X = 50mm, Y = 70mm, Z = 23mm
Tilt = -5* to +45*
Rotation = 360* endless (motor driven)
Motorized movement for all 5 axes
d. Specimen Chamber
Max Specimen size : 100mm or 4inch diameter
Specimen Exchange: Airlock type (100mm dia. or less)
EDS Detector : WD = 15 mm
Take-off Angle = 20*
e. Display System
Display Tubes
Observation: One, 17-inch color CRT
Recording : One, 5-inch ultra high resolution short-persistence CRT
Scanning Modes : PIC (Full, ½ & ¼ frame), Bright-up, line Profile, Spot
Display Modes : NORM, WFM, D-MAG, YZ Mod, FREZ, DUAL Display, Different magnification Images
Auto Functions : Auto Focus, Auto Astigmatism Correction, Auto Contrast & Brightness
Image Memory : 1280 x 1024 x 8 bits.
JEOL JSM 6340F ist ein Rasterelektronenmikroskop, das vielseitige bildgebende Funktionen für eine Vielzahl von Anwendungen bietet. Sein fortschrittliches Design verspricht überlegene Leistung in Bezug auf Auflösung, Durchsatz und Zuverlässigkeit. Es ist mit einer variablen Druckkammer ausgestattet, die durch einen stabilen Luftdruck eine sichere Umgebung für die Proben gewährleistet. Dadurch entfällt in vielen Anwendungen das Einfrieren von Proben-Kryogen. JEOL JSM-6340F verfügt über eine Feldemissionselektronenpistole, die einen Abstrahldivergenzwinkel mit einer hohen Helligkeit kombiniert. Dies macht es ideal für hochauflösende Bildgebung. Das Gerät ist außerdem mit einem fortschrittlichen Energiefilter ausgestattet, der eine präzise Energiesteuerung des Elektronenstrahls ermöglicht. Dadurch kann der Anwender die Art der Bildgebung an seine spezifischen Bedürfnisse anpassen. JSM 6340 F verfügt über eine beeindruckende 200kV beschleunigende Spannung, was zu einer verbesserten Bildauflösung von bis zu 3 nm führt. Dies macht es eine ideale Wahl für High-Detail-bildgebende Anwendungen, einschließlich medizinischer und Materialwissenschaften. Seine hohe Vergrößerungsleistung von bis zu 250.000x sorgt dafür, dass auch kleinste Merkmale identifiziert werden können. JSM 6340F verfügt auch über ein gepulstes rekontaminationsfreies SEC-Abtastsystem. Dies schafft eine stabile Beobachtungsumgebung und minimiert die Kontamination der Proben. Damit eignet es sich für Anwendungen, die eine saubere und kontaminationsfreie Umgebung erfordern, etwa im Bereich der Nanotechnologie. Das einfach zu bedienende Design und die intuitive Benutzeroberfläche bieten eine einfache und bequeme Bedienung, auch für unerfahrene Benutzer. Darüber hinaus kann das Gerät in zwei Betriebsarten betrieben werden: manuell oder automatisch. Dadurch kann der Benutzer den besten Betriebsmodus für seine spezifische Anwendung auswählen. Abschließend ist JSM-6340F ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das hervorragende bildgebende Fähigkeiten bietet. Seine Leistung wird durch Funktionen wie eine variable Druckkammer, einen fortschrittlichen Energiefilter, eine Feldemissionskanone und ein gepulstes rekontaminationsfreies SEC-Abtastsystem verbessert. Die einfache Bedienung und die intuitive Benutzeroberfläche sorgen zudem für ein angenehmes Benutzererlebnis. Als solches ist es eine ideale Wahl für hochauflösende bildgebende Anwendungen in den Bereichen Medizin- und Materialwissenschaften.
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