Gebraucht JEOL JSM 6401 #9073237 zu verkaufen

ID: 9073237
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6401 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das einen Elektronenstrahl verwendet, um Bilder einer Probenoberfläche bei hoher Vergrößerung zu erzeugen. Es hat eine hohe Auflösung von 1,3 nm, so dass Forscher atomare Proben mit Präzision beobachten können. Das SEM kann auch verwendet werden, um Proben nicht-invasiv zu analysieren, da der Elektronenstrahl die Proben in keiner Weise beeinflusst. JSM 6401 enthält eine leistungsstarke Feldemissionskanone (FEG), die den Elektronenstrahl mit hoher Genauigkeit fokussiert und lenkt. Diese Pistole hat eine Beschleunigungsspannung von bis zu 30 kV und wird mit flüssigem Stickstoff gekühlt. Dadurch bleibt der Strahl scharf und gleichmäßig, was zu qualitativ hochwertigen Bildern führt. Das Mikroskop umfasst auch ein flüssiges Stickstoff-Kühlsystem, um die Elektronenoptik und Proben vor thermischen Schäden zu schützen. JEOL JSM 6401 bietet eine Vielzahl von bildgebenden Modi, die es Forschern ermöglichen, die Probenoberfläche auf verschiedene Weise zu beobachten. Die bemerkenswertesten sind der Scanmodus, der zur Erfassung allgemeiner Bilder der Topographie einer Probe verwendet wird, und der BSD-Modus (Backscatter Electron Imaging), der zur Analyse der Probenzusammensetzung verwendet wird. Andere Modi wie der energiedispersive Röntgen- (EDX) -Modus, der EBSD-Modus (Electron Backscatter Diffraction) und der hochauflösende Bildgebungsmodus stehen ebenfalls zur Verfügung, um Forschern einen besseren Einblick in die untersuchten Proben zu ermöglichen. JSM 6401 umfasst neben seinen bildgebenden Funktionen auch einen automatisierten Probenhalter, der schnell mehrere Proben in das SEM lädt. Dieser Halter ist mit einem Goniometer ausgestattet, das eine optimale Probenpositionierung ermöglicht und eine manuelle Probeneinstellung vermeidet. Darüber hinaus umfasst das System einen digitalen Bildprozessor, der die erfassten Bilder verarbeitet und Helligkeit und Kontrast einstellen kann. JEOL JSM 6401 ist ein zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop, das leistungsfähige Bildgebungs- und Analysefähigkeiten für Forscher bietet. Seine hohe Auflösung und eine Vielzahl von Abbildungsmodi ermöglichen die Untersuchung von Proben auf atomarer Ebene, während sein automatisierter Probenhalter und digitaler Bildprozessor die Aufgaben des Ladens und Verarbeitens der aufgenommenen Bilder vereinfachen. Zusammen machen diese Funktionen JSM 6401 zu einem wertvollen Werkzeug im Labor.
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