Gebraucht JEOL JWS 7515 #129821 zu verkaufen

JEOL JWS 7515 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit Hochleistungsfunktionen und erweiterten Funktionen. Mit einem ultrastabilen Säulendesign verfügt JEOL JWS-7515 über hervorragende Leistungsmerkmale und Bildauflösung. Das SEM wurde entwickelt, um Proben aller Größen und Formen, von Nanopartikeln bis zu Schüttgütern, handhaben zu können. Das Gerät wird durch eine Hochleistungsdigitalscan-Einheit gesteuert, die hilft, Vibrieren und Geräusch bedeutsam zu reduzieren, die Abtastung von feinen und hoch empfindlichen Proben berücksichtigend. JWS 7515 ist zudem mit einer robusten Autofokussierung, einem leistungsstarken ESB-System (Elektronenquellenschutz) und einer optimierten Ablenkeinheit für eine hervorragende Bildqualität ausgestattet. Das SEM verfügt über eine große Auswahl an Elektronenoptiken, wie einen rauscharmen Szintillator, eine digital abgestimmte hochauflösende Bildgebungsmaschine und einen hybriden Arbeitsabstand. So können Anwender die Elektronenoptik auf die spezifischen Bedürfnisse ihrer Probe abstimmen und gleichzeitig die bildgebenden Anforderungen optimieren. Darüber hinaus verfügt das Gerät über ein großes Weitwinkel-Sichtfeld, das Benutzern Zugriff auf die gesamte Probenoberfläche bietet. Das SEM ist mit einer leistungsstarken thermischen Vakuumkammer ausgestattet, um umweltgerechte Bedingungen zu bieten, ideal für temperaturempfindliche Proben. Es verfügt auch über eine spezialisierte Probenvorbereitungskammer, die das automatisierte Be- und Entladen von Proben ermöglicht. Mit seiner leistungsstarken integrierten Software bietet JWS-7515 eine breite Palette von Funktionen wie Bildverarbeitungssteuerung, Datenerfassung und -analyse, sodass Benutzer die benötigten Daten schnell und effektiv sammeln können. JEOL JWS 7515 enthält ein erweitertes Bildgebungspaket und eine Reihe von Optionen für weitere automatisierte Analysen. Diese optionalen Pakete ermöglichen es, Bilder zu verarbeiten und Graphen, Diagramme und andere Datenquantifizierungen zu erzeugen. Das Gerät unterstützt auch benutzerdefinierte Parameter zur Anpassung der Datenanalyse. Insgesamt ist JEOL JWS-7515 ein leistungsstarkes, leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop mit erweiterten Funktionen und Fähigkeiten. Es bietet Anwendern außergewöhnliche Bildauflösung und flexible Bildgebungsfunktionen, die die Erfassung jeder Art von Probe unterstützen. Die Auswahl an automatisierten Analyseoptionen bietet Benutzern eine bequeme Möglichkeit, die benötigten Daten zu sammeln.