Gebraucht TOPCON LS-750 #9033947 zu verkaufen

TOPCON LS-750
ID: 9033947
Wafergröße: 6"
Weinlese: 1994
SEM, 6" 1994 vintage.
TOPCON LS-750 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop), das für eine Vielzahl von wissenschaftlichen Forschungs- und industriellen Qualitätskontrollanforderungen entwickelt wurde. Dieses SEM wurde entwickelt, um überlegene Bildauflösung bei höheren Vergrößerungen für relativ niedrige Kosten zu bieten. LS-750 verfügt über eine Abtaststufe, die eine hochauflösende Abbildung von bis zu 200 Nanometern und eine Abtaststufe von bis zu 100 Millimetern mal 100 Millimetern ermöglicht. Dieses SEM verfügt auch über eine 4kx4k Elektronenquelle für die kontrastreiche Abbildung von sehr kleinen Funktionen. Die ultraschnellen Antriebsmotoren des Scanners und die breite Palette an Vergrößerungsmöglichkeiten machen TOPCON LS-750 zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen in der Materialwissenschaft, Fehleranalyse, Halbleiterherstellung, Biologie und mehr. LS-750 verwendet eine hocheffiziente Abbildungskammer für geräuscharmen Betrieb und die Fähigkeit, bei Bedarf eine niedrig dosierte Bildgebung durchzuführen. Die Kammer verfügt außerdem über hohe Vakuumraten für verbesserte elektrische Stabilität und Bildauflösung. Der Scanner ist in der Lage, seinen Elektronenstrahl auf eine sehr kleine Punktgröße von 1,6 Nanometern zu fokussieren, was bemerkenswerte Bilddetails liefert. TOPCON LS-750 verfügt auch über automatisierte Funktionen wie automatisierte Stigmatisierung und Scan-Parametereinstellung. Die automatisierte Stigmation trägt dazu bei, dass das SEM richtig ausgerichtet ist und gleichmäßige Beleuchtung bietet, während die Einstellung des Scan-Parameters eine einfache Anpassung der Bildgröße und -auflösung ermöglicht. LS-750 ist mit einem Partikeldetektor ausgestattet, der die Kammer auf Verunreinigungen überwacht, die zu Bildartefakten oder anderen Qualitätsproblemen führen können. TOPCON LS-750 hat auch eine breite Palette von bildgebenden Modi, die verwendet werden können, um qualitativ hochwertige Bildgebung von Oberflächen, Phasenkontrast und Analyse, sowie chemische Zusammensetzungen durchzuführen. Schließlich bietet LS-750 auch hervorragende Automatisierungsfunktionen. Das Scansystem ist mit einer Reihe von Softwarepaketen von Drittanbietern kompatibel, mit denen Forscher schnell automatisierte Bildgebungsroutinen entwickeln können, die auf Knopfdruck implementiert werden können. Dies macht TOPCON LS-750 hocheffizient und einfach zu bedienen und ist somit ein ideales SEM für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen.
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