Gebraucht ADE / KLA / TENCOR NanoMapper #9081438 zu verkaufen

Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.

ID: 9081438
Wafer inspection system (4) Port open handler Guards: installed Technical manuals Includes: Robot Aligner Power supply UPS Software Currently installed and stored in cleanroom.
ADE/KLA/TENCOR NanoMapper ist ein Röntgengerät für nanomaterielle Charakterisierungsanwendungen. Das System besteht aus einer Röntgenquelle, einem einachsigen Röntgenreflektometer und einer Stufe zur Probenpositionierung. Die Röntgenquelle bietet eine Reihe von kleinwinkligen Röntgenstreuungssignalen (SAXS) und übertragenen Röntgenbeugungssignalen (TXRD), die zur genauen Messung der Phase, Morphologie und Mikrokristallinität von Nanometern von einigen hundert Nanometern bis zu einem einzigen Nanometer verwendet werden können. Das Reflektometer verwendet einen halbmonochromatischen Strahl aus Röntgenstrahlen, um Streuwinkel zwischen 0,5 und 17 Grad zu messen, so dass es hochauflösende Daten über Nanostrukturmerkmale erfassen kann. Die ADE NanoMapper-Einheit verfügt über eine geschlossene Röntgenquelle, die Messungen in einer kontrollierten Umgebung ermöglicht. Dies vermeidet Geräusch- oder Vibrationsquellen und trägt auch dazu bei, dass die Strahlungswerte für das Personal in der Nähe sicher bleiben. Die Maschine ist auch hochautomatisiert, mit einem Roboterpositionierwerkzeug für die Probenplatzierung. Dies ermöglicht sehr wiederholbare Messungen, die aussagekräftige Vergleiche über die Zeit und zwischen Proben ermöglichen. KLA NanoMapper asset produziert hochauflösende Bilder, die einfach nachbearbeitet und analysiert werden können. Es ist auch in der Lage, mehrdimensionale Datensätze wie SAXS-Bilder, Transmissionsröntgenbeugungsdaten (TXRD), 3D-Rekonstruktionen und hochauflösende Mikrographen zu erzeugen. Diese Daten können verwendet werden, um die Größe und Form von Nanomaterialien zu messen; Mängel und Verunreinigungen erkennen; Dehnungsfelder analysieren; Diffusionskoeffizienten bestimmen; und Verfolgen von Veränderungen der morphologischen und kristallinen Eigenschaften von Nanomaterialien im Laufe der Zeit. Das Modell wurde entwickelt, um die strengsten Industriestandards zu erfüllen und ist so konfiguriert, dass es mit minimaler Wartung und Ausfallzeiten arbeitet. Der modulare Aufbau ermöglicht auch, dass Upgrades schnell und kostengünstig hinzugefügt werden können, wenn neue Anwendungen oder Technologien entstehen. Die automatisierten Steuerungen und engen Toleranzen sorgen für zuverlässige und wiederholbare Ergebnisse aus jedem Experiment und bieten aussagekräftiges Feedback für Wissenschaftler und Werkstoffingenieure. TENCOR NanoMapper ist ein unschätzbares Werkzeug zur Werkstoffcharakterisierung und bietet eine Fülle von Informationen über Nanomaterialien.
Es liegen noch keine Bewertungen vor