Gebraucht ACCRETECH / TSK / XANDEX B010 #9188540 zu verkaufen

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ACCRETECH / TSK / XANDEX B010
Verkauft
ID: 9188540
Magnetic base micropositioner With electronic ink cartridge holder.
ACCRETECH/TSK/XANDEX B010 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die für genaue und wiederholbare Messungen auf Halbleiterscheiben entwickelt wurde. Es ist sowohl mit Laserinterferometrie als auch mit Elektronenstrahl-Sensortechnologien ausgestattet, um einen umfassenden Satz von Wafer-Level-Testfähigkeiten bereitzustellen. TSK B010 nutzt ein Laser-Interferometer, um die Abmessungen des Wafers genau zu messen. Die Genauigkeit der mit dem Interferometer erzielten Ergebnisse liegt in der Größenordnung von Nanometern, was es ideal für die Prüfung der Wafer bei Verwendung in Anwendungen wie MEMS, Nanoelektronik und anderen Präzisionsteilen macht. Es verfügt auch über einen 3-dimensionalen Bildgebungsmodus, der es ermöglicht, Waferstrukturen und -formen zu messen und zu analysieren und so genauere Daten als herkömmliche Methoden bereitzustellen. XANDEX B010 bietet auch ein Hochleistungsabfragungssystem des Elektronbalkens (EB) für die Oblatenprüfung an. Dies bietet zusätzliche Möglichkeiten für präzise Kontur-, Verschiebungs- und Foliendickenmessungen. Die EB-Einheit verfügt außerdem über eine Vakuummaschine zur Aufrechterhaltung niedriger Probenkontaminationen und zur Verringerung von Artefakten durch Aufladung oder Streuelektronen. Zur Erfassung der Messungen von ACCRETECH B010 ist das Werkzeug über eine integrierte Ethernet-Verbindung mit einem Computer verbunden. Darüber hinaus bietet es ein optionales Softwarepaket zur Analyse und Archivierung von Testdaten. Um konsistente Messungen sicherzustellen, verwendet B010 umfassende Kontrollfunktionen, um Probentemperatur, Positionierung und Exposition zu regulieren. Darüber hinaus ist sein Design hochgradig konfigurierbar, so dass Benutzer spezifische Sensoren und Testsysteme entsprechend ihren Anforderungen integrieren können. Abschließend ist ACCRETECH/TSK/XANDEX B010 eine hochgenaue und reproduzierbare Wafertest- und messtechnische Komponente, die sich für verschiedene Anwendungen in der Halbleiterindustrie eignet. Seine ausgeklügelte Laserinterferometrie und Elektronenstrahl-Sensortechnologien ermöglichen präzise Messungen, während eine integrierte Ethernet-Verbindung und ein optionales Softwarepaket die Analyse und Archivierung von Daten vereinfachen. TSK B010 bietet zudem konfigurierbare Steuerungsfunktionen, um konsistente Messungen zu gewährleisten und damit zuverlässige Ergebnisse zu ermöglichen.
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