Gebraucht ADE / KLA / TENCOR 6033T #9194726 zu verkaufen

ADE/KLA/TENCOR 6033T ist eine umfassende Wafer-Prüf- und Messtechnik, die umfassende elektrische, optische und dimensionale Messungen auf Wafern ermöglicht. Das System nutzt kombinierte Technologien von Software und Hardware, um fortschrittliche Lösungen für zerstörungsfreie Tests von Wafern bereitzustellen. Die ADE 6033T-Einheit basiert auf einer Plasma Bare Wafer Stepper (PBWS) -Plattform, einem automatisierten Gerät zur Bearbeitung von Wafern. Diese Maschine bietet verschiedene erweiterte Fähigkeiten wie Wafer-Mapping, elektrische Fehleranalyse, optische Fehlerinspektion und dimensionale Messtechnik Fähigkeiten. Es kann winzige Merkmale bis zur Nanometerskala erkennen und messen. KLA 6033T ist mit mehreren Segmenten ausgestattet, einschließlich einem Schrittscanner/Handler für die Platzierung von Wafern, einem Load-Port-Tool und einem automatisierten Wafer-Identifizierungs-Asset. Der Stepper startet den Abtastvorgang des Wafers und legt ihn nach Anweisung der Software jederzeit physisch auf den Messtabellen. Das Load-Port-Modell ist für die Übertragung von Wafern von ihrem Speicher auf die Sondentabelle und zurück verantwortlich. Schließlich übernimmt die automatisierte Wafer-Identifikationsausrüstung schnell eingehende Verteilerkassetten (DCs) von Wafern, was einen schnellen und effizienten Workflow ermöglicht. TENCOR 6033T umfasst auch zwei optische Mikroskopeinheiten mit einer Vergrößerung im Bereich von 20x bis 1000x, die in der Lage sind, Defekte ~ Nanometerauflösung abzubilden. Darüber hinaus umfasst das System auch verschiedene automatisierte Prüfstationen, die die elektrischen Eigenschaften wie Trägerbeweglichkeit, Dielektrizitätskonstante, Offen- und Kurzschlußprüfung, Widerstände und Kapazität der einzelnen Matrize schnell beurteilen können. Zur Analyse-Steuerung verwendet das Gerät eine Reihe von SoftGUIDES, einer Softwareplattform mit leistungsstarken erweiterten Funktionen wie automatisierte Werkzeug-/Partitionsauswahl, Spursprungmessung für Tracking und Kamera für Visualisierung und Platzierung. 6033T Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine arbeitet als Komplettpaket mit umfassenden elektrischen, optischen und dimensionalen Messungen auf verschiedenen Größen von Wafern. Es führt effizientes Scannen von Durchgangslöchern, Gräben, Unebenheiten, Vias und anderen Elementen der Waferoberfläche mit Nanometergenauigkeit durch, und seine automatisierte Teststation bietet eine optimale Lösung für die Überprüfung lebenswichtiger elektrischer Parameter. Das Werkzeug ist in der Lage, schnelle und genaue Ergebnisse für die Herstellung von hochzuverlässigen Geräten zu liefern.