Gebraucht FOUR DIMENSIONS 280SI #9180333 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9180333
Four point probe station
Measuring bulk wafers
Resistivity tester for measuring bulk wafers
Conductive films:
Metals
EPI
Alloys
Diffusion
Ion implantation
Polysilicon
Measurement range: 1E-3 to 8E5 Ohm/sq
Up to 200 mm in diameter
156 mm X 156 mm Platen
Speedy motions
System backup diskettes
Vacuum hose
Ceramic probe conditioner
Manual (On CD)
Automap
Analysis software mapping package
PC Computer system:
2GHz CPU
250GB Hard drive
1GB RAM
CD ROM Drive
HP Deskjet color printer
19" FPD Monitor
Precision probe head
Software on Windows 7
Calibration set (CAL-1 to CAL 5).
FOUR DIMENSIONS 280SI ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik für Halbleiterscheiben. Es ist ein integriertes System, das die fortschrittlichste verfügbare Wafer-Messtechnik-Plattform ist. Es ist eine ideale Lösung für Wafer-Test- und Messtechnik-Anwendungen in Forschung und Produktion. 280SI verwendet eine patentierte Technologie namens „Raster Beam Analysis“, die hochgenaue 2D- und 3D-Messungen und Analysen mehrerer Parameter über den gesamten Wafer liefert. Dies hilft bei der Optimierung der Waferprozesse und der Überprüfung ihrer kritischen Abmessungen und Parameter. Das Gerät unterstützt folgende Wafermessungen: photooptische, optische Bildgebung, Oberflächentopographie und Kontaktsondentechniken. Es ist in der Lage, die Dicken und Merkmalsgrößen mehrerer Schichten mit großer Präzision und Genauigkeit mit Interferometrie und Spektroskopie Techniken zu messen. Darüber hinaus verfügt es auch über eine 4D-Bildverarbeitungsmaschine, um Tiefen- und dreidimensionale Topographie mit Subwellengenauigkeit zu messen. FOUR DIMENSIONS 280SI Tool wird mit Datenanalyse und Bearbeitungsalgorithmen geliefert, die eine umfassende Charakterisierung von Wafern ermöglichen. Es verfügt auch über einen großen Touchscreen, um mit dem Bediener zu interagieren. Durch die Verbindung mit einer zentralen Datenbank kann der Bediener erfasste Daten speichern und analysieren. Das Asset verfügt über Standard-PC-Konnektoren, mit denen der Benutzer 280SI in sein bestehendes Netzwerk integrieren und in einer verteilten Umgebung verwenden kann. Dies ermöglicht modellübergreifende Kompatibilität, Integration und erweiterte gemeinsame Nutzung und Analyse von Daten. Mit seinen mehreren Schnittstellen ist das Gerät einfach konfigurierbar, um in jede Betriebsumgebung zu passen. Die robuste mechanische Konstruktion des Systems sorgt für Langlebigkeit und unterstützt Wafer bis 8 ". Die intuitive und benutzerfreundliche Benutzeroberfläche wurde entwickelt, um Maschinenstillstände zu minimieren und den Betrieb zu optimieren. FOUR DIMENSIONS 280SI bietet herausragende Präzision und Genauigkeit bei hoher Geschwindigkeit und ist somit ideal für jeden messtechnischen Betrieb. Mit seinen innovativen Technologien und Funktionen ist es die ultimative Wafer-Messtechnik-Plattform, die zuverlässige und genaue Ergebnisse mit erhöhtem Durchsatz für Forschung und Produktion liefert.
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