Gebraucht OLIN MICROELECTRONIC MATERIALS 25 #142444 zu verkaufen

OLIN MICROELECTRONIC MATERIALS 25 ist eine integrierte Messtechnik und Wafer-Prüfanlage, die speziell für die Messung einer Vielzahl komplexer physikalischer, elektrischer und materieller Eigenschaften von Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. Das System ist für die Herstellung von Halbleitern, auch in den Bereichen Optoelektronik und Mikroelektronik, vorgesehen. Das Gerät ist eine umfassende Wafer-Test- und Messtechnik-Lösung, die physikalische, mechanische, elektrische und optische Eigenschaften von Halbleiterbauelementen messen kann. Es enthält eine Vielzahl modernster Tools, Software und Zubehör, um eine breite Palette von Gerätetypen zu unterstützen, von Multi-Chip-ICs bis hin zu kleinen Geräten. Die Maschine bietet eine Reihe verschiedener Testtechnologien, darunter 4-Punkt-Sonde, Laserprofilometrie, Kapazitäts-/Expansionsmessungen, Indexspiegelprofilometer, Skalendiagnose, optische Vermessung, Flächenwiderstand und Niederstromelektroden. Es bietet auch spezialisierte Subsysteme wie die Nano-Sonden-Sensor-Technologie (NPT) für nanomechanische Tests, nanoauflösende optische Grabenbildgebung und In-Plane Gap Analyzer (IGA). Das Tool besteht aus drei Hauptkomponenten - einem Metrologiemodul mit integrierter Wafer-Prüfstation, Laserquellen und einem Softwaremodul. Das Metrologiemodul umfasst ein integriertes Scanning-Asset, den Optiprobe-Scanner und die Z-Achsen-Stufe. Die Laserquellen sind speziell für die Verbesserung des Durchsatzes und der Genauigkeit von Wafertests und Messtechnik konzipiert. Das Softwaremodul hilft dabei, den Test- und Messtechnik-Prozess zu automatisieren, indem es Benutzern ermöglicht, schnell Parametereinstellungen einzugeben, ausgewählte Tests ein-/auszuschalten und Berichte zu erstellen. Dieses Modul hilft Operatoren, Zeit und Aufwand zu sparen sowie Fehler oder Anomalien im Testprozess leicht zu erkennen und zu korrigieren. Das Modell bietet auch eine leistungsstarke Benutzeroberfläche, um die Interaktion zwischen dem Bediener und dem Gerät zu erleichtern. Insgesamt ist 25 ein ausgeklügeltes Wafer-Prüf- und Messsystem, das speziell für die Messung physikalischer, elektrischer und optischer Eigenschaften von Halbleiterbauelementen konzipiert ist. Es bietet modernste Technologien, integrierte Scaneinheit, Laserquellen und leistungsstarkes Softwaremodul, um Anwendern zu helfen, Kosten zu minimieren und den Durchsatz zu maximieren und gleichzeitig Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu gewährleisten. Mit seinen umfassenden Merkmalen ist diese Maschine ideal für industrielle und Laboranwendungen.