Gebraucht ADE / KLA / TENCOR AWIS 3100 #9148343 zu verkaufen

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ADE / KLA / TENCOR AWIS 3100
Verkauft
ID: 9148343
Wafergröße: 6"-12"
X-ray spectrometer, 6"-12".
ADE/KLA/TENCOR AWIS 3100 ist eine erstklassige Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die zur hochauflösenden Inspektion von Halbleiterbauelementen bei der Entwicklung und Herstellung von integrierten Schaltungen, Verpackungen und anderen Produkten entwickelt wurde. ADE AWIS 3100 vereint eine Vielzahl fortschrittlicher Bildgebungs-, Messtechnik- und Mustererkennungstechnologien zu einer einzigen, integrierten Plattform. Das System verfügt über eine hochauflösende Bildstation, die Bilder von extrem kleinen Geräten mit überlegener Genauigkeit aufnehmen kann. Es verfügt auch über einen erweiterten SRAM-Speicherchip-Analysator zur Erkennung von Defekten in On-Chip-SRAM-Zellen. Die SRAM-Speichertestfunktion macht das Tool unschätzbar für die Analyse von Komponenten, die unter zeitlichen, logischen und funktionellen Fehlerproblemen leiden können. Die KLA AWIS 3100 verfügt auch über eine fortschrittliche Fehlerabbildungs- und Berichtstechnologie, die es Ingenieuren ermöglicht, potenzielle Fehler in Masken und Wafern schnell zu lokalisieren und zu identifizieren. Das Gerät kann Fehlerstellen markieren und detaillierte Berichte zu möglichen Problemen erstellen. Diese Berichte können so angepasst werden, dass sie zusätzliche Informationen wie den Fehlertyp, seinen Standort und andere relevante Details enthalten. Dies ermöglicht es Ingenieuren, eine Vielzahl von Fehlern schnell zu beurteilen, ohne dass langwierige, aufwendige Tests erforderlich sind. Die Maschine ist darüber hinaus mit fortschrittlichen optischen Fehlerkarten ausgestattet, die es ihr ermöglichen, Fehler an Masken auch bei ungleichmäßiger Beleuchtung schnell und genau zu erkennen. Diese Fähigkeit ermöglicht die Erkennung von Produktfehlern vor der Herstellung und damit die Verbesserung der Gesamtausbeute und -qualität des Fertigprodukts. Schließlich ist TENCOR AWIS 3100 mit einer benutzerfreundlichen grafischen Oberfläche entworfen, so dass es einfach für eine breite Palette von Ingenieuren und Technikern unabhängig von ihren technischen Hintergründen zu bedienen. Als solches ist es eine ideale Wahl für Halbleiterherstellungsprozesse, die hohe Auflösung und Genauigkeitsprüfungen erfordern.
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