Gebraucht ADE / KLA / TENCOR NanoMapper #9183764 zu verkaufen

ADE/KLA/TENCOR NanoMapper ist eine hochauflösende Röntgenbildgebungsanlage, die für die Charakterisierung von Nanomaterialien entwickelt wurde. Das System verfügt über zwei Technologien, ADE-Ultrahochauflösung Röntgenquelle mit fortschrittlicher Beamline-Optik und KLA-Nanoskop-Profiler für nanoskalige Oberflächentopographie. Diese beiden Technologien arbeiten zusammen, um beispiellose Bilder und Messungen von Nanomaterialien zu erzeugen. TENCOR liefert seine Röntgenquelle mit einem leistungsstarken nanosekundengepulsten 200-Kilovolt-Elektroneninjektor und Strahllinienoptik. Die Strahloptik liefert extrem hochauflösende Bilder mit bis zu Nanometerauflösung. Dies ermöglicht eine detaillierte strukturelle und elementare Analyse einzelner Nanostrukturen. Die Einheit umfasst auch ladungsgekoppelte Gerätedetektoren (CCD) für die Röntgenaufnahme sowie mehrkanalige Plattendetektoren zur Detektion von Elektronen, die aus ionischen Wechselwirkungen stammen. ADE/KLA/TENCOR Nanoskop Profiler ist die zweite Technologie, die in ADE NanoMapper verwendet wird. Das Nanospielraum bietet dauernde Nanometer-Oberflächentopografiemaße, der Maschine ermöglichend, eine Reihe von Oberflächenparametern wie Fläche, Rauheit und Mikroskopie zu messen. Dies kombiniert mit der Röntgenquelle, um sehr detaillierte Bilder von Nanodyamik und Oberflächenvariablen zu erstellen. Neben der Bildgebung verfügt KLA NanoMapper auch über die patentierte ADE Scanning Electron Microscopy (SEM) Technologie zur detaillierten Analyse von Merkmalen im Nanometermaßstab. Diese Technologie umfasst ein fortschrittliches Elektronenmikroskop, das mit hochempfindlichen Elektronendetektoren kombiniert wird, um präzise Bilder der morphologischen Merkmale einer Nanostruktur zu erhalten. Auf diese Weise erhalten Anwender Daten zur weiteren Analyse und zum Vergleich. Das Tool ist auch so konzipiert, dass es hoch tragbar ist, sodass Benutzer Schnappschüsse von Nanostrukturen in beliebigen Umgebungen machen können. Dies macht es ideal für die Charakterisierung von Nanomaterialien in einer Vielzahl von Bedingungen. Insgesamt ist NanoMapper eine fortschrittliche Röntgenbilderzeugung, die für die Charakterisierung von Nanomaterialien entwickelt wurde. Die Kombination aus ultral-hochauflösender Röntgenquelle, Strahllinienoptik, CCD-Detektoren, Nanoskop-Profiler und Rasterelektronenmikroskopie schafft ein einzigartiges Modell, mit dem Benutzer beispiellose Bilder und Messungen von Nanostrukturen mit hoher Portabilität erhalten können.