Gebraucht PHILIPS / FEI Nova NanoLab 200 #9081351 zu verkaufen

Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.

ID: 9081351
Weinlese: 2004
Focused ion beam system Electron and ion beams: Yes (2) Gas injection systems: PT, unlabeled Detectors: Secondary Backscatter Chamberscope Main instrument: Semiconductor Stage tilt: Yes Rotation capability: 45° or more Features / addons: Micromanipulator Second gas: Ins 2004 vintage.
PHILIPS/FEI Nova NanoLab 200 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Bildgebung und Analyse der nanoskaligen Strukturen verschiedener Materialien. Es ist mit einer 3-Achsen-Präzisionsstufe ausgestattet, die es ermöglicht, bis zu drei Achsen gleichzeitig für eine präzise Probenpositionierung zu bewegen. Darüber hinaus ist das Mikroskop in der Lage, eine hochauflösende Abbildung von Oberflächen mit einer lateralen Auflösung von 0,5 nm und einer vertikalen Genauigkeit von 0,3 nm zu ermöglichen. Das FEI Nova NanoLab 200 verfügt über eine fortschrittliche automatisierte Bildverarbeitungs- und Analysesoftware, mit der Benutzer Bilder schnell und genau erfassen und analysieren können. Es ist auch mit einer hocheffizienten Elektronenkanone gebaut, die hochintensive Elektronenstrahlen für die Abbildung von Oberflächen bis zum atomaren Niveau erzeugt. Diese Elektronenkanone wurde entwickelt, um die Auswirkungen der Aufladung aufgrund der Elektronenstrahl-Wechselwirkung mit der Probe zu minimieren. PHILIPS Nova NanoLab 200 enthält auch ein automatisiertes Probenanregungssystem, das die Größe und Richtung des Strahls steuert, um den Bildkontrast für eine Vielzahl von Anwendungen zu optimieren. Es ist auch mit einer Vielzahl von Softwarepaketen ausgestattet, um alle Aspekte der Probenvorbereitung, Analyse und Konditionsoptimierung zu unterstützen. Nova NanoLab 200 nutzt auch anspruchsvolle computergestützte Scanvorgänge über seinen integrierten motorisierten Scanner. Dieses System ermöglicht eine automatisierte Abtastung entlang aller Achsen der Probe sowie die Möglichkeit, die Belichtungszeit und Helligkeit des Elektronenstrahls zu steuern, kritische Komponenten des bildgebenden Erfolgs für den erfolgreichen Betrieb des Mikroskops. Schließlich hat PHILIPS/FEI Nova NanoLab 200 eine breite Palette von Zubehör entwickelt, um die Benutzererfahrung zu verbessern. Dieses Zubehör umfasst einen Mikroskop-Controller zur Vereinfachung der Bilderfassung, ein Bildanalyseprogramm zur schnellen Analyse von Bilddaten und eine Vielzahl von Manipulatoren, die die Umgebung der Probe manipulieren sollen, wie Halter, Decklippen, Probenhalter und Dampfdruckmanipulatoren. All-in-all, FEI Nova NanoLab 200 ist eine ausgezeichnete Wahl für das Studium nanoskalige Strukturen und Materialien aufgrund seiner anspruchsvollen Rasterelektronenmikroskop. Es bietet eine hohe Genauigkeit, ein fortschrittliches automatisiertes Bildgebungs- und Analysesystem sowie eine Vielzahl von Werkzeugen und Zubehör für optimierten Betrieb. Mit seiner Vielseitigkeit und Erschwinglichkeit ist es eine ideale Wahl für jeden Forscher.
Es liegen noch keine Bewertungen vor