Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision #9256560 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision Mask & Wafer Inspection Equipment ist eine umfassende Lösung mit hohem Durchsatz, die der Halbleiterherstellung und anderen verwandten Industrien hilft, die Gesamtproduktionsleistung, den Durchsatz und die Qualität zu verbessern. Unter Verwendung fortgeschrittener optischer Erkennung und Bildgebung ist das System in der Lage, Halbleitermuster genau zu analysieren und potentielle Fehler zu identifizieren. Das Gerät wurde entwickelt, um den Inspektionsprozess zu optimieren, indem sowohl langsame als auch sich schnell bewegende Fehler schnell und präzise erkannt werden. Dies geschieht durch mehrere dynamische Inspektionsfolgen, die so konfiguriert werden können, dass sie wiederholbare Ergebnisse liefern. Zu den Funktionen der Maschine gehören sowohl ihre erweiterte Suite von bildbasierten Fehlererkennungsalgorithmen als auch ihre fortschrittliche Fehlerinspektionstechnik. Das Tool bietet einen automatisierten Echtzeit-Ansatz für die Waferinspektion und liefert Analyseergebnisse, die zuverlässig und wiederholbar sind. Das Mask & Wafer Inspection Asset von AMAT verfügt über ein hochauflösendes digitales Bildgebungsmodell sowie digitale Bildverbesserungstechnologie. Dies ermöglicht extrem präzise Musteruntersuchungen, Fehlererkennung und Bauteilwertmessung. Mit automatisierter Merkmalserkennung und -analyse kann das Gerät schnell Anomalien oder Defekte erkennen. Das System verfügt auch über erweiterte Ausrichtungs- und Korrekturfunktionen, die es ermöglichen, Muster mit scharfen Kanten und hochempfindlichen Strukturen effektiv zu analysieren. Das Gerät bietet auch leistungsstarke Kantenerkennungsfunktionen, so dass es die gewünschten Muster erkennen und isolieren kann. Darüber hinaus ist die Maschine mit Funktionen für Antifouling-Inspektionen ausgelegt. Dabei werden Wafer auf gängige Umweltverunreinigungen wie Hecht, Abrieb und Schimmelbildung untersucht. Zusätzlich zu diesen Funktionen trägt das Tool auch dazu bei, die Inspektionszeit zu verkürzen, indem manuelles Scannen entfällt, um die Produktivität zu verbessern und Kosten zu senken. Insgesamt wurde die Mask & Wafer Inspection Asset von APPLIED MATERIALS entwickelt, um den Produktionsertrag und die Produktqualität zu verbessern. Durch die schnelle, genaue und wiederholbare Inspektionsleistung erhöht das Modell die Wahrscheinlichkeit, dass fehlerhafte oder defekte Geräte frühzeitig im Produktionszyklus erkannt und ersetzt werden, was zu verbesserten Erträgen, erhöhter Effizienz und Kosteneinsparungen führt.