Gebraucht LEITZ Ergolux #93721 zu verkaufen

LEITZ Ergolux ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die einen umfassenden Blick auf die Form und Qualität von Wafern und Masken bietet. Es ist ein fortschrittliches Bildgebungs- und Analysewerkzeug, das Fehler- und Kontaminationserkennung, Formmessung und Ätztiefenmessung in einem einzigen Gerät ermöglicht. Ergolux nutzt ein automatisiertes Bilderkennungssystem, das in der Lage ist, eine Vielzahl von Komponenten gleichzeitig zu scannen und zu analysieren. Es ist in der Lage, die Oberflächentopographie von nahezu vollen Feldern mit LEITZ-Mikrolithen und einer 16-Megapixel-Abbildungseinheit zu beurteilen. Es ist in der Lage, Funktionen wie Fehlerort und -größe, Verschmutzung, Wafer/Maskendicke, Ätztiefe und Mustergenauigkeit mit großer Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu messen. Um eine optimale Bildgebungsleistung und -genauigkeit zu gewährleisten, verfügt LEITZ Ergolux über mehrere Funktionen. Dazu gehören eine einstellbare und Beleuchtungsmaschine, erweiterte Bildverarbeitung, Farberkennung und eine 0,2 µm Bildauflösung mit einem 6-Achsen-Automatisierungswerkzeug. Dies ermöglicht eine verbesserte Bildgebung, Analyse und Wiederholbarkeit für eine effiziente Inspektion. Ergolux nutzt auch eine softwarebasierte Bildverarbeitung, um Rauschen und Streifen zu reduzieren und die Fehlerisolierung zu erleichtern. Darüber hinaus werden proprietäre Objekterkennungsalgorithmen verwendet, um Fehler innerhalb eines Wafers/einer Maske zu identifizieren, was eine genaue und automatisierte Fehleranalyse ermöglicht. LEITZ Ergolux ist ein effektives Werkzeug für die Wafer- und Maskeninspektion und hat sich für eine Vielzahl von Anwendungen als zuverlässig und präzise erwiesen. Mit der Fähigkeit, eine Vielzahl von Komponenten zu scannen und zu analysieren, ist Ergolux das perfekte Werkzeug für schnelle Qualitätssicherung, Fehlererkennung und Wartung. Darüber hinaus sorgen die erweiterten Bildverarbeitungsfunktionen und die automatisierte Analyse für mehr Einfachheit und Wirtschaftlichkeit.