Gebraucht TAIWAN WOS2000 #9177890 zu verkaufen

TAIWAN WOS2000 ist eine automatisierte Masken- und Wafer-Inspektionsanlage zur optischen und elektrischen Charakteristikabschirmung von Halbleiterscheiben. Es bietet integrierte Lösungen für den Siebtest und die Analyse kritischer Defekte sowie die mechanische Beanspruchung und temperaturinduzierte Prüfung von Werkzeugen. WOS2000 bietet ein vollautomatisches Bildaufnahme- und Bildverarbeitungssystem mit fortschrittlicher Fehlererkennung und automatischer Fehleranalyse. Das Gerät erkennt optisch und elektrisch sichtbare Defekte am Wafer mit einer Auflösung von bis zu 0,5um und mit einer höheren Genauigkeit und Wiederholbarkeit als manuelle Inspektionen. Es besteht aus einer hochwertigen Videokamera zur Aufnahme von Bildern, einer hochpräzisen Bühnenmaschine und einem fortschrittlichen optischen Setup zur exakten Ausrichtung. Das Werkzeug ist auch mit präzisen Steuer- und Messmodulen für den Antrieb und die Steuerung der Bewegungs- und Drehstufen, thermische Messungen, Lichtquelle und andere ausgestattet. Für die Fehleranalyse kann es programmiert werden, verschiedene Arten von Fehlern zu erkennen, wie Kantenfehler, fehlende und überdimensionale Merkmale, Leitungsfehler, Korngrenzfehler und thermisch bedingte Fehler. Es kann auch zur automatischen Fehleranalyse mit der Technologie „Umweltstichraum“ verwendet werden. Darüber hinaus umfasst TAIWAN WOS2000 Spezialwerkzeuge und Zubehör, wie ein elektrisches Parametermessmodul, das die direkte Inspektion und Korrelation der elektrischen Leistung des Geräts sowie visuelle und gedruckte Defekte ermöglicht. Die elektrischen Messfähigkeiten der Anlage ermöglichen auch die Optimierung der Modellleistung im Test (SUT), wodurch aufwendige und zeitaufwendige manuelle Leistungstests entfallen. Darüber hinaus bietet es umfassenden Kundenservice und Support während des gesamten Lebenszyklus seiner Produkte mit effizienter und schneller Reaktion auf Serviceanforderungen. Darüber hinaus bietet es eine Vielzahl softwarefähiger Anwendungen und Funktionen wie automatisierte Bildverarbeitung und Fehleranalyse, SPC-Analyse, thermische Bildgebung, Fehlersortierung, Prozessüberwachung und Datenanalyse. Zusammenfassend bietet WOS2000 eine umfassende, automatisierte Wafer-Inspektionsausrüstung mit fortschrittlichen optischen und elektrischen Eigenschaften, Fehleranalysefunktionen, präzisen Steuerungs- und Messfunktionen, Prozessüberwachung und Datenanalysefunktionen. Es wurde entwickelt, um Zeit und Kosten zu sparen und gleichzeitig die Qualität der Wafer-Produkte zu verbessern.