Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 300 #9281378 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9281378
Weinlese: 2001
Prober
Chuck type: Gold
Chuck size: 8"-12"
E2 Camera
Loader
Temperature range: Ambient +150°C
HINGE MHF250 Manipulator
GPIB
Needle alignment
Auto needle height
Auto alignment
XY Position accuracy: ±1µm
No manipulator and inking
No chiller
No docking kit
No head plate
No OCR
No clean pad
2001 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 300 prober ist eine führende Halbleitersondierstation für eine umfassende Oberflächenanalyse. Durch eine Reihe von präzisen Schritten bietet TSK UF 300 hochwertige Bildgebung, Visualisierung und schnelle Messungen von Mikro- und Nanostrukturen auf der Oberfläche eines Halbleiterwafers. Mit einer Bandbreite von niedrigen elektrischen Messungen bis hin zur Demonstration von lichtinduziertem Schritt- und Detektionsverfahren ist ACCRETECH UF300 ein leistungsfähiger Prober, der es ermöglicht, die komplexesten Strategien und Komponenten zu erforschen. UF 300 verfügt über ein 12 oder 14 GHz Oszilloskop als Kernkomponente des Probers, wodurch Impedanzmessungen mit ultrahoher Auflösung durchgeführt werden können. Der Prober ist zudem für den automatisierten Betrieb optimiert und verfügt über eine leistungsstarke Rechenmaschine für die Hochgeschwindigkeits-Bildverarbeitung. Seine Scanner, darunter der Passport-VL Scanner und der Passport-TW Scanner, ermöglichen eine verbesserte Bildgebung mit beispielloser Genauigkeit und schnellerer Probenregistrierung. Neben der Prober-Fähigkeit bietet ACCRETECH/TSK UF300 eine Reihe von Funktionalitäten wie variable Umgebungstemperaturregelung, erweiterte Wafer-Stufenverfügbarkeit und eine einfach zu bedienende Softwareschnittstelle. Sein HF-Fehlerkorrekturmechanismus, der Korrekturinformationen auf einem Monitor anzeigt, sorgt für eine verbesserte Genauigkeit an feinen Strukturen. Für die anspruchsvollsten Anforderungen verfügt UF300 auch über eine Vielzahl automatisierter Zubehörfunktionen, die adaptive Sondentests an verschiedene Prozessbedingungen ermöglichen. Automatische Fokusmessung und Kalibrierfunktionen sind verfügbar, und ACCRETECH UF 300 kann LED-Wafer-Erkennung in einer Hochgeschwindigkeits- und Hochpräzisionsart durchführen. TSK UF300 ist die ideale Proberlösung für Forschungs- und Entwicklungsteams, die eine effektive Qualitätskontrolle von Halbleiterproduktionsprozessen sowie eine Vielzahl von Bildgebungs-, Visualisierungs- und Analysefunktionen ermöglicht, um eine schnelle Prüfung und Messung von Geräten zu ermöglichen. Der Prober verfügt auch über Fernüberwachungsfunktionen, die den Betrieb in rauen Umgebungen ermöglichen. Letztlich verfügt ACCRETECH/TSK UF 300 über eine sichere und zuverlässige Plattform, die über eine Vielzahl von Testanwendungen betrieben werden kann.
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