Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9261123 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL ist eine Prober-Ausrüstung für die Prüfung und Sondierung von Wafer-Chips. Es ist in der Lage, Analysen und Tests auf einem einzelnen Chip oder Wafer mit einem Durchmesser von bis zu 8 "Durchmesser durchzuführen, zur genauen Überwachung von integrierten Schaltungen und Komponenten. Es wurde entwickelt, um Drahtbondpads, Kontaktflächen und Schaltungsgeometrien genau zu messen und bietet geräuscharme elektronische Messungen für hohe Präzisionsergebnisse. TEL P8XL verwendet eine genaue XYZ-Positionierung für die Sondenanordnung, um einen genauen und wiederholbaren Kontakt zwischen Sonden und Chips zu gewährleisten. Eine intuitive grafische Benutzeroberfläche (GUI) ermöglicht eine einfache, schrittweise Bedienung. Die Sondierung kann mit einem Adapterkopf erfolgen, der mehr als 40 Sonden hält, oder mit einer Indexierplatte, die bis zu 60 Sonden aufnimmt. Sonden sind typischerweise aus Kohlefaser, Silikon oder Edelstahl für ausgezeichnete elektrische Leitfähigkeit und lange Lebensdauer. Dieses System umfasst auch mehrere Sicherheitsmerkmale, wie eine Düsenblock-Detektionseinheit, um keinen zufälligen Sondenkontakt mit einem benachbarten Chip zu gewährleisten, und eine deformierbare Substratwafer-Detektionsmaschine, die eine Echtzeit-Detektion von Chipbewegung oder Substratverformung ermöglicht. TOKYO ELECTRON P8-XL ist mit einer breiten Palette von Sondierungssystemen kompatibel und kann mit Inspektionsgeräten zur Qualitätssicherung integriert werden. Es verfügt über ein automatisches Niveauregelwerkzeug, das die Kontaktgröße und Positionsgenauigkeit innerhalb von 0,5 µm beibehält; und ein automatisches Ausrichtungsgut, das die Sondenposition und die reale Struktur des Chips korreliert. P-8XL umfasst Hochgeschwindigkeitsabtastung von strukturierten Substraten; vorübergehende Prüfung mehrerer Systeme gleichzeitig zur Verbesserung der Leistung; und verbesserte Mustererkennungsfunktionen. Es ist ein sehr zuverlässiger und präziser Prober, der die neuesten Technologien im Wafer-Chip-Test und -Sondierung verwendet und eine benutzerfreundliche Oberfläche für schnelle und genaue Ergebnisse bietet.