Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8XL #9261135 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8XL ist eine Proberausrüstung zur Messung und Überwachung von Halbleiterbauelementen wie integrierten Schaltungen (ICs) oder Transistoren. Dieses hochmoderne Probersystem ermöglicht eine hochpräzise, automatisierte Sondierung von Halbleiterbauelementen für viele verschiedene Testzwecke. Es verwendet ein dielektrisches Pad, um eine elektrische Verbindung zwischen dem Gerät und einer externen Messschaltung zu bilden. Die Probereinheit unterstützt Messungen sowohl der DC- als auch der AC-Eigenschaften von Halbleiterbauelementen. TEL P8XL nutzt eine leistungsstarke Wafer-Sondierstation mit einem großen Touchscreen mit 12 Zoll (30,5 cm). Dieses Display bietet eine hochwertige, interaktive Schnittstelle, um die Messgeräte einzurichten, die Parameter zu steuern und die Prüfvorgänge zu überwachen. Der Touchscreen erleichtert auch die vollautomatische Wafermessung von der Werkzeugauswahl, dem Be-/Entladen und der Prober-Ausrichtung. TOKYO ELECTRON P8-XL ist in der Lage, DC- und AC-Eigenschaften unterschiedlichster Halbleiter-IC-Bauelemente genau zu messen. Es kann mit jeder Art von IC-Gerät verwendet werden und ist mit allen gängigen Testtechniken kompatibel. Diese Prober-Maschine verfügt über Präzisionssondierung an mehreren Standorten und erweiterte Stempel-zu-Stempel-Verifizierung. Seine hochauflösenden automatisierten Messfähigkeiten können eine Vielzahl von Parametern wie Vt, Rds (on), Leckage und thermischen Widerstand messen. TEL P-8XL bietet mit seinem breiten Funktionsumfang eine hohe Produktivität. Es unterstützt Verbesserungen in der Geräteleistung mit seiner Wafer-Level-Testgenauigkeit und hoher Geschwindigkeit Sondierungsrate. P8XL robuste Konstruktion und Wartung sind zudem äußerst zuverlässig und effizient. Darüber hinaus ist das Prober-Asset ergonomisch gestaltet, mit bequemer Bedienung des Benutzers, so dass es bequem zu bedienen ist. Insgesamt ist das Modell TEL P8-XL prober ein großartiges Werkzeug zum Testen von Halbleiterbauelementen mit hoher Genauigkeit, Bequemlichkeit und Zuverlässigkeit. Es ist eine zuverlässige und einfach zu bedienende Prober-Ausrüstung, die genaue und präzise Messungen einer Vielzahl von Halbleiter-ICs bietet. Es ist für hohe Produktivität konzipiert und arbeitet mit allen gängigen Testtechniken, so dass es eine große Option für Halbleiterbauelementherstellung Operationen.