Gebraucht CAMBRIDGE S 200 #9034861 zu verkaufen

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CAMBRIDGE S 200
Verkauft
ID: 9034861
SEM Windows 7 upgrade Scanning system DISS 5 standard edition/communication USB 2.0 Hardware: X-/Y-scan, 2 analog signal inputs without counter inputs Software: without mapping and enlarged point measurement/line scan 19" rack (containing the electronics), 10 HU without housing, without desk Backplane and power logic with interlock system Central USB 2.0 interface for control and communication Plug-in card with 8 bipolar current sources (Beam alignment, image shift, stigmator) Plug-in card with X-/Y-scanning power amplifier / current sources (Magnification coarse/fine, scan rotation, tilt correction X/Y filament image) Plug-in card for objective and 2 condensor lenses / power current sources (focus coarse, fine, spot size) Plug-in card with 8 analog unipolar/bipolar control outputs /voltage (gun: HV, filament emission, SE: contrast, brightness, grid; aux: contrast brightness) 2.9. Power supplies for electronics, lenses and coils SE-amplifier module (Amplifier with offset; adjustable 1,5 kV for PMT, power supply SE-preamp SE-high voltage module (10-12 kV scintillator-high voltage and adjustable grid voltage Control module for gun-high voltage of SEM (Control of HV, filament, emission, emission current measurement, optional: power supply) Adaption of the vacuum and HV interlock of the SEM to the interlock-system of the SEM-upgrade (Vacuum-gun-HV-interlock; Stage SE-HV-interlock) 19" rack fitting in the SEM housing Schottky Thermal Field Emission (TFE) source Point-to-point Resolution of <3nm* High Beam Current. (10pA to >100na) Improved low voltage (1kV) performance TFE “Schottky” Source PC controlled. Reduced Downtime and Cost of Ownership Fully reversible AND transferable upgrade Kit for variety of Tungsten (W) SEM models including JEOL, Hitachi, FEI, Zeiss and others. External and internal magnetic shielding 30 KeV Schottky Field Emission Source Mechanical Assembly: x1 Thick walled stainless steel chamber One Schottky Field Emission Gun Unit Differential pumping tube and UHV valve Internal mu-metal shield 55 I/s ion pump and power supply (optional) External mu-metal shield YPS High Voltage Power Supply: Remote high voltage supply unit with: Fibre optic link High voltage cable with Discharge Management YPS Schottky Field Emission Gun Unit: Pre-aligned™ YPS Schottky field emission module (HV-30) YPS Software Interface: USB interfaced fibre optic output to the remote YPS HV power supply Software from the system PC to controland monitor the Schottky field emission module.
CAMBRIDGE S 200 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Bildgebung und Analyse von winzigen Objekten. Es hat die Fähigkeit, unglaublich hochauflösende Bilder mit einer Auflösung von bis zu einem Nanometer zu produzieren. Zu den Hauptkomponenten von CAMBRIDGE S-200 gehören eine Elektronenquelle, eine Beschleunigungssäule, ein Faraday-Käfig, ein Ablenker, ein Abtastgenerator, ein Hochspannungsnetzteil und ein digitaler Bilddetektor. Die Elektronenquelle ist ein feiner Faden, der Elektronen emittiert, die dann die beschleunigende Säule hinunterlaufen. Danach durchlaufen die Elektronen den Ablenker, der den Strahl in den Probenbereich ablenkt. Der Abtastgenerator erzeugt im Probenbereich einen abgelenkten Strahl, der die Erzeugung eines Rasterbildes der Probenoberfläche ermöglicht. Nach Abschluss dieser Scans wird ein Signal an den Bilddetektor gesendet, der das optische Signal in elektrische Signale umwandelt und an die Anzeige sendet. S 200 verfügt über eine Reihe von Funktionen, die es zu einer idealen Wahl für Anwendungen machen, die hochauflösende Bildgebung und Analyse erfordern. Sein Ultrahochvakuumsystem ermöglicht den Betrieb bei extrem niedrigem Druck und sorgt dafür, dass die Probe nicht durch den Elektronenstrahl beschädigt wird. Darüber hinaus trägt sein Energiefilter dazu bei, die Strahlverbreiterung zu reduzieren und ein Bild mit höherer Auflösung zu erzeugen. Es hat auch ein integriertes Bildverbesserungssystem, das bei der Rauschreduzierung und Kontrastverbesserung hilft. S-200 verfügt über eine fortschrittliche Probenstufe, die die Automatisierung der Probennavigation und -positionierung ermöglicht. Dadurch können Proben ohne Benutzerinteraktion abgebildet werden. Die Bühne hat auch eine Reihe von Merkmalen wie variable Beschleunigungsspannung, Probe Neigung und Probendrehung, so dass es für praktisch jede Abbildungs- oder Analyseaufgabe geeignet. CAMBRIDGE S 200 verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche, die eine einfache Navigation, Bedienung und Steuerung des Mikroskops ermöglicht. Es verfügt auch über ein fortschrittliches Softwaresystem, das Live-Tracking, Automatisierung und quantitative Analyse von Probenbildern bietet. Damit eignet sich CAMBRIDGE S-200 für eine Vielzahl von Anwendungen wie Nanoskalimetallographie, Werkstoffanalyse, Fehleranalyse und Korngrößenmessung. Insgesamt ist S 200 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit der Fähigkeit, extrem hochauflösende Bilder zu erzeugen. Die fortschrittlichen Funktionen ermöglichen eine automatisierte Probenpositionierung, eine intuitive Bedienung und eine quantitative Analyse und sind somit eine ideale Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen.
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