Gebraucht HITACHI NX 2000 #293622849 zu verkaufen

HITACHI NX 2000 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine fortschrittliche Bildgebung, einen außergewöhnlichen Durchsatz und einen hohen Probendurchsatz bietet. Dieses SEM ermöglicht es Benutzern, Oberflächenmorphologie und Mikrostruktur von Proben zu beobachten, die von nanoskaligen bis Hunderten von Mikrometern reichen. Besonders vorteilhaft ist es beispielsweise für die Inspektion von Halbleiterscheiben. Dieses Elektronenmikroskop weist viele vorteilhafte Merkmale auf, die eine Vielzahl von bildgebenden, analytischen und messenden Fähigkeiten, hochauflösenden Fähigkeiten und einen großen Arbeitsabstand für Langzeitbeobachtungen umfassen. Der große Arbeitsabstand ermöglicht bei Bedarf die Beobachtung größerer Proben und den Austausch von Bauteilen. Diese Maschine bietet auch eine breite Palette von Vergrößerungen von 100,000X bis 1,000,000X. Darüber hinaus ist dieses Rasterelektronenmikroskop eine Ultrahochvakuumeinrichtung, die bei Messungen eine kontaminationsfreie Umgebung gewährleistet. Zusätzlich bietet dieses Gerät einen Hochleistungsdetektor mit einem hervorragenden Signal-Rausch-Verhältnis und Empfindlichkeit. Dies ermöglicht es dem Benutzer, schnell genauere, detaillierte Bilder zu erhalten. Dieses Mikroskop ist mit einem hochauflösenden digitalen Bildgebungssystem ausgestattet. Das System bietet Benutzern verschiedene Bildaufnahmemodi und Bildverarbeitungsfunktionen. Dieses Gerät ist auch in der Lage, automatisierte Analyse-Software, die bestimmte Eigenschaften von Proben zu identifizieren, einschließlich Dicke und Partikelfehler. Die in NX 2000 entworfene Benutzeroberfläche bietet eine einfache computergesteuerte Plattform, die es dem Benutzer ermöglicht, Operationen schnell für Routineaufgaben einzurichten. Dieses Gerät bietet auch einfachen Zugriff auf Steuerungen und Einstellungen für die Anpassung des gewünschten Experiments. HITACHI NX 2000 ist eines der fortschrittlichsten Modelle von Rasterelektronenmikroskopen und ein großartiges Werkzeug für Forscher und Industrieprofis auf dem Gebiet der Materialwissenschaft. Diese Einheit gibt einen genauen, detaillierten Blick auf die Mikrostrukturen von Materialien, die mit anderen Elektronenmikroskopen nicht sichtbar wären. Die interaktive Echtzeit-Umgebung von NX 2000 wird eine effiziente und zeitnahe Untersuchung der Oberflächenmorphologie und Mikrostruktur der Proben ermöglichen.