Gebraucht HITACHI S-2300 #165214 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 165214
SEM
Resolution: 4.6 nm
Accelerating voltage: 0.5 to 25 kV (selectable in 35 steps)
Magnification: 20 to 200,000x
Maximum specimen diameter: 150mm
Specimen goniometer stage:
Noneucentric:
X: 80mm
Y: 40mm
R: 360°
T: -20° to 90°
Z: 30mm
Super eucentric:
X: 32mm
Y: 32mm
R: 360°
T: -90° to 90°
Z: 30mm
Automatic control: brightness / contrast, focusing, astimatism correction
Memory function: magnification presetting (desired 2 points), accelerating voltage memory, specimen position memory
Signal processing: Gamma control
Image display and recording: commercial TV scan, slow scan (4 steps), reduced area scan, waveform, photo scan (3 steps), twin photo, automatic data display
Configuration:
Column unit
Display
Oil rotary pump
Auto transformer
Standard tools
Spares and consumables
Instruction manual.
Das HITACHI S-2300 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein hochleistungsfähiges, hochmodernes bildgebendes System zur Untersuchung unterschiedlichster Materialien und Anwendungen. Es ist ein Rasterelektronenmikroskop, das einen hohen Automatisierungsgrad mit außergewöhnlicher Bildgebungsfähigkeit kombiniert. S-2300 SEM ist das höchstauflösende Werkzeug seiner Klasse und wird in verschiedenen Anwendungen wie Materialanalyse, Fehleranalyse, Oberflächenbildgebung und 3D-Bildgebung eingesetzt. HITACHI S-2300 verwendet eine Hybrid-Rasterelektronensäule mit einer Quelle mit großem Durchmesser, die aus einem beheizten Wolframfaden besteht, zur Integration in eine hochpräzise Stufe. Dadurch wird sichergestellt, dass jeder gescannte Bereich schnell und präzise in hoher Auflösung und hohem Kontrast geliefert wird. Es ist auch mit einem umfassenden Traveling Magnetic Field (TMF) Detektor ausgestattet, der das Signal-Rausch-Verhältnis erhöht und gleichzeitig den Bereich der Beschleunigungsspannung reduziert. Diese Technologie ermöglicht eine bessere Abbildung nichtleitender Proben, die typischerweise nicht von herkömmlichen Elektronendetektoren detektiert werden. Neben seinen Scanfunktionen bietet S-2300 eine breite Palette von Funktionen für die fortschrittliche Anwendung der Elektronenstrahl-Bildgebung. Seine hohe Vakuumleistung unterstützt die Verwendung hoher Beschleunigungsspannung für die Abbildung kristalliner Strukturen. Dies ermöglicht die Abbildung von submikrongroßen Merkmalen und sieht interne Strukturen bis auf atomare Ebene. 3D-Autofokus kann verwendet werden, um den Fokus ohne Eingriff des Bedieners einzustellen, während automatisierte Bühnensteuerung und Mikroskop-Autokalibrierung eine unverseuchte Abbildung auch der präzisesten Proben ermöglichen. HITACHI S-2300 verfügt auch über ein Ausrichtungssystem, das es ermöglicht, jede Fehlausrichtung zwischen Probe und Detektor zu erkennen. Dies kann ein schnelles Feedback zur Genauigkeit der Probenplatzierung liefern und zur Korrektur von Abweichungen im Bild verwendet werden. Es enthält auch eine Reihe von Softwarepaketen, die erweiterte analytische Optionen wie Partikelanalyse, digitale Bildverarbeitung und 3D-Ansichten bieten. S-2300 ist ein hochleistungsfähiges Mikroskop für die Materialanalyse und Bildverarbeitung und eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen in Forschung und Industrie. Durch die Kombination fortschrittlicher Technologie mit hoher Leistung und hervorragender Bildauflösung bietet HITACHI S-2300 ein einzigartiges Maß an Präzision und Kontrolle für Anwendungen, die höchste Detailgenauigkeit und Genauigkeit erfordern.
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